[发明专利]一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备及检测方法在审
申请号: | 202111278626.5 | 申请日: | 2021-10-31 |
公开(公告)号: | CN113884501A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 唐云龙;韩春波;王磊;冯雪;岳文;杨义勇 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京);中国地质大学(北京)郑州研究院 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市海淀区学院路2*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多孔 陶瓷 天线罩 新型 无损 检测 设备 方法 | ||
1.一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,其特征在于,包括一体式旋转台基座、检测光源系统和换位检测系统;所述一体式旋转台基座包括旋转台、旋转电机、基座;所述旋转电机设置于基座内部与旋转台相连;所述旋转台设置于基座上;所述检测光源系统和换位检测系统设置于一体式旋转台基座上;所述检测光源系统包括光源感应机构、与光源感应机构相连的光源快换装置以及与光源快换装置相连的光源发生管;所述光源快换装置相连的光源发生管在天线罩检测时封闭于天线罩内。
2.如权利要求1所述的一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,其特征在于,所述换位检测系统包括升降机构、与升降机构相连的随升降机构升降的探测机械臂,以及设置于探测机械臂上的检测相机组合。
3.如权利要求2所述的一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,其特征在于,所述升降机构包括:设置于一体式旋转台基座上的升降架和设置在探测机械臂上的电箱。
4.如权利要求1所述的一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,其特征在于,所述旋转台包括上层主体部分及下层支撑部分,设置于上层主体部分的卡槽旋转盘,和设置于卡槽旋转盘上的密封圈,卡槽及密封圈将待检测天线罩固定在旋转台上。
5.如权利要求4所述的一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,其特征在于,所述下层支撑部分包括:支撑架、设置于支撑架上的卡槽旋转盘支撑滚轮。
6.如权利要求2所述的一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,其特征在于,所述检测相机组合包括: 设置在转换架上的用于第一、二次检测的广角工业相机、用于精检的高倍工业相机及第二旋转电机、与探测机械臂相连的转换接头。
7.权利要求1-6中任意一项多孔陶瓷基天线罩的新型无损检测方法,其特征在于,包括:
步骤 S1:启动多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备,设备自我检测后进入准备状态;
步骤S2:将待检测多孔陶瓷基天线罩放置于旋转台上与密封圈紧密贴合,光源发生管完全封闭于待检测天线罩内;
步骤 S3:启动检测光源系统,调整光源亮度;
步骤 S4:启动旋转台及换位检测系统,调用广角工业相机,设备进行第一次检测;
步骤S5:第一次检测结束后,调用光源快换装置更换光源发生管位置,设备进行第二次检测;
步骤 S6:第二次检测结束后,如果发现存在缺陷或疑似缺陷则进入S7,否则跳转至S10;
步骤 S7:调用高倍工业相机,按顺序将检测相机调整至存在缺陷或疑似缺陷位置处,设备进行精检;
步骤 S8:设备精检结束后,多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备自动恢复至待检测状态;
步骤 S9:检测程序对检验结果进行分析,确定缺陷的类型、尺寸和具体位置坐标;
步骤S10:检测程序生成检测结论并输出检测结果报告,设备恢复至待检测状态准备下一次检测;
步骤S11:若所有待检测天线罩均已检测完毕,则结束所有程序并关闭设备。
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