[发明专利]一种基于公差约束的叶片表面振纹修复方法

权利要求书

1.一种基于公差约束的叶片表面振纹修复方法，其特征在于，包括：

步骤1：将待修复的整体叶盘安装到机床工作台上并完成基准找正；

步骤2：测量整体叶盘叶片型面，根据叶片测量结果进行整体叶盘叶片模型的重构；

步骤3：采用手动打点的方式，测量叶片加工振纹上、下边界的高度值，将测量的高度值导入到整体叶盘叶片模型中，提取振纹边界的2条理论截面线Line_up、Line_low；

步骤4：在振纹上、下边界高度值的基础上，朝远离振纹的方向偏置5mm获得2条偏置理论截面线LineOff_up、LineOff_low；

步骤5：在2条理论截面线和2条偏置理论截面线相应高度上完成4条振纹截面线的在线测量，获得4条实测截面线；

步骤6：基于4条实测截面线完成2条理论截面线和2条偏置理论截面线的光滑处理，生成光滑截面线Line'_up、Line'_low、LineOff'_up和LineOff'_low；

步骤7：对光滑截面线Line'_up、Line'_low、LineOff'_up和LineOff'_low按照公差进行双向偏置，生成新的4条截面线；

步骤8：基于新的4条截面线完成叶片加工振纹修复曲面重构；

步骤9：在重构的叶片加工振纹修复曲面上编制振纹修复程序；

步骤10：将振纹修复程序传送到数控设备，完成叶片振纹修复加工。

2.如权利要求1所述的基于公差约束的叶片表面振纹修复方法，其特征在于，所述步骤1具体为：将机床主轴回到机床零点，将待修复的整体叶盘安装在机床工作台上，通过手动打表，完成零件的基准找正。

3.如权利要求1所述的基于公差约束的叶片表面振纹修复方法，其特征在于，所述步骤2具体为：通过机床在线测量整体叶盘叶片型面数据，应用逆向工程手段完成整体叶盘叶片模型的重构。

4.如权利要求1所述的基于公差约束的叶片表面振纹修复方法，其特征在于，所述步骤6具体为：

步骤6.1：找出2条理论截面线、2条偏置理论截面线与对应的实测截面线的偏差点，作为特征点；

步骤6.2：按照矢量计算方式计算特征点距离理论截面线的偏差距离；

步骤6.3：以偏差距离和偏差方向作为约束条件、曲线光滑过渡为目标，控制2条理论截面线、2条偏置理论截面线分别向对应的实测截面线偏移，生成光滑截面线Line'_up、Line'_low、LineOff'_up和LineOff'_low。

5.如权利要求1所述的基于公差约束的叶片表面振纹修复方法，其特征在于，所述步骤7具体为：

对截面线LineOff'_up、LineOff'_low按照公差带的上偏差Dev_up向外进行偏置；对截面线Line'_up、Line'_low按照公差带的下偏差Dev_low向内进行偏置。