[发明专利]气体分析装置以及气体分析装置的状态检测方法在审
申请号: | 202111284515.5 | 申请日: | 2021-11-01 |
公开(公告)号: | CN114577922A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 芝本繁明 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 分析 装置 以及 状态 检测 方法 | ||
本发明的气体分析装置(1)具备:色谱柱(40),分离试样气体中的成分;阀(V1a、V1b),在实际试样气体与标准试样气体之间切换向色谱柱(40)供给的试样气体;阀(V3、V4),调整向色谱柱(40)供给的试样气体的注入量;检测器(50),通过气相色谱法对由色谱柱(40)分离出的试样气体中的成分进行检测;控制装置(100)。控制装置(100)控制阀(V3、V4)以使注入量达到规定量,在注入量为规定量的情况下,计算由检测器(50)获取到的色谱图的峰面积值,计算注入量与峰面积值的对应关系。
技术领域
本公开内容涉及通过气相色谱法检测试样气体中的成分的气体分析装置以及该气体分析装置的状态检测方法。
背景技术
一般地,在气相色谱仪等气体分析装置中,设有对作为分析对象的试样气体(样气)中的各种成分进行分离的色谱柱、以及通过气相色谱法对由色谱柱分离出的成分进行检测的检测器等。使用气体采样器对气体分析装置的色谱柱供给试样气体。通常,在气体采样器中,设有固定容积的样品环、以及用于切换样品环的连接对象的切换阀等。通过利用切换阀的控制而适当切换样品环的连接对象,气体采样器将从试样气体源供给的试样气体暂时填充至样品环,之后将填充于样品环内的固定量的试样气体供给至气体分析装置的色谱柱(参照日本特开2015-190875号公报)。
发明内容
在气体分析装置中,由于色谱柱的劣化、检测器的污染、试样的吸附和分解、微细的气体泄漏等各种各样的原因,分析结果可能恶化。因此,一般来说,由进行分析的用户进行标准试样气体的分析,根据重复分析的再现性、校准曲线的直线性等各种各样的分析结果,综合地判定气体分析装置有无异常。
然而,以往的方法中为了判定气体分析装置有无异常,需要事先准备分别填充有浓度不同的多个标准试样气体的多个容器并与气体分析装置连接,依次切换向气体分析装置供给的标准试样气体的浓度。因此,存在需要另外特别的装置,气体分析装置整体的构成变得复杂,导致高成本化,或者用户的操作变得繁杂这样的问题。在日本特开2015-81783号公报中没有示出关于这样的问题及其对策的任何内容。
本公开内容是为了解决上述技术问题而完成的,本公开内容的目的在于通过简单的构成判定气体分析装置有无异常。
本公开内容的方案的气体分析装置具备:色谱柱,分离试样气体中的成分;切换阀,在实际试样气体与标准试样气体之间切换向色谱柱供给的试样气体;调整阀,调整向色谱柱供给的试样气体的注入量;检测器,通过气相色谱法检测由色谱柱分离出的试样气体中的成分;控制装置,控制切换阀及调整阀。控制装置控制调整阀使注入量达到规定量,在控制着调整阀的状态下计算由检测器获取到的色谱图的峰面积值,计算注入量与峰面积值的对应关系。
在上述的气体分析装置中,设有在实际试样气体与标准试样气体之间切换向色谱柱供给的试样气体的切换阀、和调整向色谱柱供给的试样气体的注入量的调整阀。进一步地,控制装置控制调整阀以使注入量达到规定量,计算注入量为规定量的情况下的峰面积值,计算注入量与峰面积值的对应关系。因此,通过例如控制切换阀以向色谱柱供给标准试样气体,并且控制调整阀以使注入量变化为预先决定的各种各样的量,能够对预先决定的各种各样的量分别计算注入量与峰面积值的对应关系。由此,能够判定气体分析装置有无劣化。此时,由于能够利用调整阀来控制向色谱柱供给的试样气体的注入量,所以不需要准备浓度不同的多个标准试样气体,也不需要另外设置用于依次切换向气体分析装置供给的标准试样气体的浓度的特别的装置。其结果为,能够提供一种能够以简单的构成判定气体分析装置有无异常的气体分析装置。
本公开内容的方案的状态检测方法是气体分析装置的状态检测方法。气体分析装置具备对试样气体中的成分进行分离的色谱柱。状态检测方法包含:向色谱柱供给规定量的试样气体的步骤;计算在向色谱柱供给规定量的试样气体的状态下获取到的色谱图的峰面积值的步骤;计算注入量与峰面积值的对应关系的步骤。
本发明的上述以及其他目的、特征、方面及优点将通过联系附图理解的与本发明相关的以下详细说明来阐明。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所,未经株式会社岛津制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111284515.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:存储介质、量化方法和量化装置
- 下一篇:非晶合金薄带的制造方法