[发明专利]一种高放样品中子成像检测装置

权利要求书

1.一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：包括样品转运容器、检测屏蔽块和承载系统，所述检测屏蔽块为样品转运容器吊装提供支撑平台，所述样品转运容器通过检测屏蔽块和承载系统连接；

所述样品转运容器包括内层铅罐和外层铅罐，所述内层铅罐通过嵌套的方式与外层铅罐连接，所述内层铅罐的外径为30cm，内径为7.1cm，所述外层铅罐的外径50cm，内径为30cm。

2.根据权利要求1所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述内层铅罐和外层铅罐顶的部均设有吊环，所述内层铅罐远离所述吊环的一侧设有凸起块。

3.根据权利要求1所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述外层铅罐远离吊环的一侧设有挡块机构。

4.根据权利要求1所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述检测屏蔽块包括中子束流通道和可拆卸接口屏蔽块，所述中子束流通道尺寸为 185mm*185mm。

5.根据权利要求4所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述可拆卸接口屏蔽块设有中子间接成像转换屏安装接口和数字成像系统接口，所述可拆卸接口屏蔽块通过套接的方式与检测屏蔽块连接。

6.根据权利要求1所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述样品转运容器包括滑轨和设置在滑轨上并与所述滑轨滑动连接的支撑架，所述支撑架一侧设有驱动支撑架移动的电机。

7.根据权利要求6所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述支撑架远离所述滑轨的一侧设有承载台，所述承载台的截面面积与所述检测屏蔽块的截面面积保持一致。

8.根据权利要求6所述的一种高放样品中子成像检测装置，其特征在于：所述电机外侧设有铅防护罩，所述铅防护罩为错层结构。