[发明专利]芯片的测试方法及装置

说明书

本发明提供一种芯片的测试方法，执行于存储有测试参数包的数据服务器，包括：获取用户输入的更新测试参数，在测试参数包中查询是否具有与更新测试参数对应的历史测试参数；当测试参数包具备对应的历史测试参数时，将更新测试参数进行存储并记录更新测试参数的版本；当测试参数包不具备对应的历史测试参数时，将更新测试参数进行存储，向执行测试程序的测试服务器发送更新通知，以使测试服务器获取与更新测试参数对应的更新测试程序。本发明提供的芯片的测试方法及装置，能够将测试参数与测试程序本身进行解耦，在未增加新的功能模块和测试方法的时候，测试参数单独更新，无需对测试程序进行升版，从而，减少维护过程所需要投入的人力和时间。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片的测试方法及装置。

背景技术

在芯片的测试过程中，对于测试参数的设置，是采用不同工艺角的corner芯片进行特性测试，从而得到整体产品的不同功能性模块(IP)的特性特征，基于收集到的特性特征，对每一个功能性模块选取能代表其特征的测试参数并设置在测试程序中。从而能够保证功能模块正常的芯片通过，而功能性异常的芯片能够筛除出来。目前通用的测试参数设置方法是在测试程序中直接设置测试参数。在测试过程中，不同功能模块测试工程师会收集不同功能模块的特性测试数据，在各个功能模块测试中更新测试参数。并在收集到更新测试参数后会将各个功能模块的测试程序整合起来，做成新版测试程序。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

在测试过程中，会获取大量的测试数据，在测试过程中，需要依据测试数据对测试参数进行调整，由于测试参数设置在测试程序内，因此，测试参数的更新会伴随着测试程序的升版，因此，在测试过程中会导致测试程序的频繁升版，在维护过程中需要投入大量的人力和时间。

发明内容

本发明提供的芯片的测试方法及装置，能够将测试参数与测试程序本身进行解耦，在未增加新的功能模块和测试方法的时候，测试参数单独更新，无需对测试程序进行升版，从而，减少维护过程所需要投入的人力和时间。

第一方面，本发明提供一种芯片的测试方法，执行于存储有测试参数包的数据服务器，包括：

获取用户输入的更新测试参数，在所述测试参数包中查询是否具有与所述更新测试参数对应的历史测试参数；

当所述测试参数包具备对应的历史测试参数时，将所述更新测试参数进行存储并更新所述测试参数包版本；

当所述测试参数包不具备对应的历史测试参数时，将所述更新测试参数进行存储并更新所述测试参数包版本，向执行测试程序的测试服务器发送更新通知，以使所述测试服务器获取与所述更新测试参数对应的更新测试程序。

可选地，还包括：

接收所述测试服务器发送的数据下载请求，并向所述测试服务器发送对应的测试参数包。

可选地，在所述测试参数包中查询是否具有与所述更新测试参数对应的历史测试参数包括：

获取所述更新测试参数的属性信息，所述属性信息包括功能模块字段以及测试方法字段；

当所述测试参数包中具备至少一个第一历史测试数据时，确定所述测试参数包具备对应的历史测试参数；所述第一历史测试数据的属性信息与所述更新测试参数的属性信息相同；

当所述测试参数包中不具备第一历史测试数据时，确定所述测试参数包不具备对应的历史测试参数。

可选地，还包括：

获取用户的版本切换请求，并依据所述版本切换请求将对应的所述历史测试参数切换为可用状态。

第二方面，本发明提供一种芯片的测试方法，执行于测试服务器，包括：