[发明专利]一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202111304287.3 | 申请日: | 2021-11-05 |
公开(公告)号: | CN113986708A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 叶朋;郭建川;殷灿菊 | 申请(专利权)人: | 科东(广州)软件科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 高艳红 |
地址: | 510530 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 性能 测试 方法 系统 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种性能测试方法,其特征在于,应用于运行有实时操作系统的被测设备,包括:
在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取所述测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作;
运行所述被测设备的所述目标性能测试程序;
调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间;
根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,包括:
获取所述测试设备中计数器的第一计时时间,并将所述第一计时时间确定为所述第一测试时间;
其中,在确定当前测试轮次与预设测试总次数不匹配的情况下,确定对所述被测设备进行性能测试。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,包括:
根据所述目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序;
在确定所述目标性能测试响应程序被触发的情况下,调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述测试设备中计数器的第二计时时间,并将所述第二计时时间确定为所述第二测试时间。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,包括:
计算所述第二测试时间和所述第一测试时间之间的时间差值,并将所述时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果;
根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,包括:
根据各测试轮次的实时性能指标测试结果计算目标实时性能指标;
将所述目标实时性能指标确定为所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程之前,还包括:
生成所述测试设备的设备初始化指令,并将所述设备初始化指令发送至所述测试设备,以使所述测试设备根据所述设备初始化指令进行设备初始化配置;
其中,所述设备初始化指令包括工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令。
7.一种性能测试系统,其特征在于,包括测试设备和被测设备,所述测试设备和被测设备通过预设连接方式进行通信连接;其中:
所述测试设备用于对所述被测设备进行性能测试;
所述被测设备用于在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,运行所述被测设备的目标性能测试程序,并调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述测试设备包括:处理器和计数器,所述处理器和所述计数器通信连接;其中:
所述处理器用于在对所述测试设备进行设备初始化配置之后,向所述计数器发送计时指令;
所述计数器用于根据所述计时指令进行计时,以生成计时时间;
其中,所述计时时间用于所述被测设备确定所述第一测试时间和所述第二测试时间。
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