[发明专利]探针校准方法和装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种探针校准方法，其特征在于，包括：

获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；

根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度，得到探针校准高度；

获取所述探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于所述第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取所述相机的中心点坐标；

根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标；

根据所述探针校准高度和所述第二探针坐标，得到所述探针的校准坐标；

根据所述校准坐标对所述探针进行校准处理。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度调整所述探针的高度，得到探针校准高度，包括：

获取第一预设阻值；

比较所述第一探针阻值和所述第二预设阻值之间的大小关系；

根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度，包括：

若所述第一探针阻值大于等于所述第一预设阻值，则根据所述初始探针高度和预设的第一调整高度，得到第一校准高度；

获取所述探针位于所述第一校准高度的第二探针阻值；

根据所述第一校准高度和所述第二探针阻值得到探针校准高度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度，还包括：

若所述第一探针阻值小于所述第一预设阻值，则根据所述第一校准高度和预设的第二调整高度，得到第二校准高度；

获取第二预设阻值，并获取所述探针位于所述第二校准高度的第三探针阻值；

比较所述第三探针阻值和所述第二预设阻值之间的大小关系；

根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度，包括：

若所述第三探针阻值小于所述第二预设阻值，则根据所述第二校准高度和所述第二调整高度，得到第三校准高度；

获取所述探针位于所述第三校准高度的第四探针阻值；

根据所述第三校准高度和所述第四探针阻值，得到探针标准高度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度，包括：

若所述第三探针阻值大于等于所述第二预设阻值，则确定所述第三校准高度为探针校准高度。

7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标，包括：

根据所述第一探针坐标和所述第一相机坐标，得到第一坐标差；

根据所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二坐标差；

根据所述第一坐标差和所述第二坐标差，得到第二探针坐标。

8.一种探针校准装置，其特征在于，包括：

第一获取模块：用于获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；

第二获取模块：用于根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度，得到探针校准高度；

第三获取模块：用于获取所述探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于所述第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取所述相机的中心点坐标；

第一计算模块：用于根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标；

第二计算模块：用于根据所述探针校准高度和所述第二探针坐标，得到所述探针的校准坐标；

探针校准模块：用于根据所述校准坐标对所述探针进行校准处理。