[发明专利]一种测试激励生成方法、测试方法、装置和相关设备

说明书

本发明提供了一种测试激励生成方法、测试方法、装置和相关设备，其中测试激励生成方法包括：随机获取多个第一测试激励，第一测试激励包括多个测试指令，测试指令用于对待测设计进行仿真测试；提取每个第一测试激励的至少部分测试指令；将多个第一测试激励的至少部分测试指令重组，生成第二测试激励。由于多个第一测试激励是随机获取的，因此，多个第一测试激励的测试指令也是随机组合的，从而可以生成新的不同于第一测试激励的第二测试激励，进而可以使得测试激励的种类更加丰富多样，进而可以最大程度地提升验证空间，实现验证的快速收敛。

技术领域

本发明实施例涉及集成电路设计技术领域，具体涉及一种测试激励生成方法、测试方法、装置和相关设备。

背景技术

集成电路设计完成后，都要对其功能进行正确性验证。在验证的过程中，通常需要编写受约束的随机测试激励，来对设计进行仿真测试。然而，随着集成电路设计的规模越来越大，需要验证的设计功能也越来越多样化。常用的受约束的随机测试激励已经不能实现验证的快速收敛。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种测试激励生成方法、测试方法、装置和相关设备，以通过新生成的测试激励实现验证的快速收敛。

为解决上述问题，本发明实施例提供如下技术方案：

本发明第一方面提供了一种测试激励生成方法，包括：

随机获取多个第一测试激励，所述第一测试激励包括多个测试指令，所述测试指令用于对待测设计进行仿真测试；

提取每个所述第一测试激励的至少部分测试指令；

将所述多个第一测试激励的至少部分测试指令重组，生成第二测试激励。

本发明第二方面提供了一种测试方法，包括：

获取第二测试激励，所述第二测试激励是根据随机获取的多个第一测试激励的至少部分测试指令重组生成的，所述第一测试激励包括多个测试指令，所述测试指令用于对待测设计进行仿真测试；

基于所述第二测试激励，对待测设计进行测试。

本发明第三方面提供了一种测试激励生成装置，包括：

第一获取模块，用于随机获取多个第一测试激励，所述第一测试激励包括多个测试指令，所述测试指令用于对待测设计进行仿真测试；

第二获取模块，用于提取每个所述第一测试激励的至少部分测试指令；

生成模块，用于将所述多个第一测试激励的至少部分测试指令重组，生成第二测试激励。

本发明第四方面提供了一种测试装置，包括：

获取模块，用于获取第二测试激励，所述第二测试激励是根据随机获取的多个第一测试激励的至少部分测试指令重组生成的，所述第一测试激励包括多个测试指令，所述测试指令用于对待测设计进行仿真测试；

测试模块，用于基于所述第二测试激励，对待测设计进行测试。

本发明第五方面提供了一种计算机设备，包括：

存储器，存储至少一组指令；

处理器，执行所述至少一组指令进行如上任一项所述的测试激励生成方法，或者，如上任一项所述的测试方法。

本发明第六方面提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质存储至少一组指令，所述至少一组指令用于使处理器执行如上任一项所述的测试激励生成方法，或者，如上任一项所述的测试方法。