[发明专利]一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法在审
申请号: | 202111307372.5 | 申请日: | 2021-11-05 |
公开(公告)号: | CN113851371A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 张学骜;邓楚芸;苏悦;卫月华;郑晓明;陈扬波;刘金鑫 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/027 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 马应森;戴深峻 |
地址: | 361005 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二维 材料 转移 孔洞 衬底 方法 | ||
1.一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)将PDMS薄膜贴在载玻片上;
2)使用机械剥离法将待转移的二维材料块体剥离至步骤1)得到的PDMS薄膜上;
3)在显微镜下找到步骤2)机械剥离后的二维材料,并将多余部分的PDMS薄膜剪切掉;
4)将步骤3)得到的带有材料的载玻片固定于二维材料转移台的基片卡槽内;
5)将带有孔洞的Si衬底吸附于转移台的样品座上;
6)将步骤4)中的材料对准Si衬底上的孔洞,升温使PDMS薄膜与Si衬底部分接触;
7)继续升温使得PDMS薄膜自发地与Si衬底贴合紧密;
8)降温使PDMS薄膜与Si衬底分离。
2.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤1)中,所述PDMS薄膜的长宽可为1~3cm,厚度约为1mm。
3.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤2)中,所述待转移的二维材料为石墨烯、二硫化钼、氮化硼。
4.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤3)中,所述薄膜剪切后的长宽为3~5mm,剪切时,材料边界距离薄膜边界预留2~4mm宽度,二维材料尽量在剪切后的薄膜中央。
5.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤5)中,将带有孔洞的Si衬底尺寸为5~15μm。
6.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤6)中,所述升温是升至50~100℃。
7.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤7)中,所述继续升温是升至100~150℃,升温速率为2~8℃/min,恒温后保持1~30min。
8.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤8)中,所述降温的速率为0.1~5℃/min。
9.如权利要求1所述一种二维材料转移至孔洞衬底上的方法,其特征在于在步骤8)中,所述分离通过旋转转移台的xy轴样品杆控制分离速率,或通过降温使材料自发地与样品分离,保持较低的降温速率。
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