[发明专利]激光雷达扫描光束测量系统

权利要求书

1.一种激光雷达扫描光束测量系统，其特征在于，该系统包括探测装置和数据处理装置；

所述探测装置包括探测芯片，所述探测装置用于将所述探测芯片的感光面接收到的光信号转化为对应的电压信号，所述探测装置能够在预设方向移动；

所述数据处理装置用于，将被测激光雷达以预设姿态放置并且将所述被测激光雷达的探测面对准所述探测装置的探测芯片之后，在某一测量距离下，沿所述预设方向移动所述探测装置时，获取所述探测装置在所述预设方向的每个点的位置信息和所述位置信息对应的电压信号，作为该测量距离对应的探测信号，所述测量距离为所述被测激光雷达与所述预设方向的垂直距离，所述预设姿态包括第一姿态或第二姿态，在所述第一姿态下，所述被测激光雷达的被测扫描光束的扫描平面与所述预设方向垂直，在所述第二姿态下，所述被测扫描光束的扫描平面与所述预设方向平行，所述预设方向为直线方向；

所述数据处理装置根据至少一种测量距离对应的探测信号，获取所述被测扫描光束在所述预设姿态下的光束特性信息。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括示波器，所述示波器分别与所述探测装置和所述数据处理装置相连，该系统还用于：

将所述被测激光雷达的探测面与所述探测芯片面对面放置，以使得所述示波器出现电压信号；

对所述被测激光雷达的位置进行调整，或者对所述探测装置的位置进行调整，直至所述示波器上的电压信号值最大。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括滑座，和雷达安装机构，所述探测装置安装在所述滑座上，所述被测激光雷达安装在所述雷达安装机构上；

调整所述滑座的高度，直至所述示波器上的电压信号值最大；

或者，调整所述雷达安装机构的高度，直至所述示波器上的电压信号值最大。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述数据处理装置用于：

根据第一测量距离对应的探测信号，获取同一个光斑下最大电压值对应的第一位置、电压值为所述最大电压值的二分之一时所对应的第二位置、和电压值为所述最大电压值的1/e²时所对应的第三位置，其中，一个扫描光束产生一个光斑；

根据所述第一位置和所述第二位置，得到所述第一测量距离时所述被测扫描光束的光斑半峰宽；

根据所述第一位置和所述第三位置，得到所述第一测量距离时所述被测扫描光束的光束宽度。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述数据处理装置用于：

根据第一公式计算所述第一测量距离时所述被测扫描光束的光斑半峰宽，所述第一公式为W_f＝2|X_m-X_f|

其中，W_f为所述被测扫描光速的光斑半峰宽，X_m为所述第一位置，X_f为所述第二位置，|X_m-X_f|用于表示所述第一位置和所述第二位置的距离；

所述根据所述第一位置和所述第三位置，得到所述第一测量距离时所述被测扫描光束的光束宽度包括：

根据第二公式计算所述第一测量距离时所述被测扫描光束的光束宽度，所述第二公式为：

W_e＝2|X_m-X_e|

其中，W_e为所述被测扫描光速的光束宽度，X_m为所述第一位置，X_e为所述第三位置，|X_m-X_e|用于表示所述第一位置和所述第三位置的距离。