[发明专利]产品外观缺陷检测方法、装置及存储介质有效
申请号: | 202111310559.0 | 申请日: | 2021-11-08 |
公开(公告)号: | CN113744274B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 钟石明;李海龙;王艳强;潘玲 | 申请(专利权)人: | 深圳市巨力方视觉技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G01N21/88 |
代理公司: | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人: | 赵爱蓉 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区松*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 产品 外观 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种产品外观缺陷检测方法,其特征在于,所述产品上具有图案,所述产品外观缺陷检测方法包括:
采集所述产品的待检测图像;
按照行和列计算所述待检测图像中各个像素点的灰度值与预设灰度图像的灰度值之间的灰度差值,并按照所述待检测图像中各个像素点的坐标顺序,对计算得到所述灰度差值进行排列以生行和列对应的灰度差值序列;
根据所述行和列对应的灰度差值序列生成灰度差值集合;
从所述灰度差值集合所包括的行和列对应的灰度差值序列中查找最小灰度差值序列,将最小灰度差值序列作为所述图案的最小像素规律周期;
在所述灰度差值集合中存在有异常差值序列时,确定所述产品存在缺陷;其中,所述异常差值序列为所述灰度差值集合中与所述最小灰度差值序列不相同的灰度差值序列,所述最小灰度差值序列的序列长度小于行或列对应的灰度差值序列的序列长度,所述与所述最小灰度差值序列不相同的灰度差值序列的序列长度与所述最小灰度差值序列的序列长度相同。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采集所述产品的待检测图像的步骤包括:
获取所述产品的原始拍摄图像和拍摄环境中的光照参数,所述原始拍摄图像包括背景图像和所述产品的特征图像;
根据所述光照参数对应的预设图像调整参数调整所述原始拍摄图像;
从调整后的所述原始拍摄图像中截取所述特征图像,得到所述待检测图像。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述光照参数对应的预设图像调整参数调整所述原始拍摄图像的步骤之后,还包括:
判断调整后的所述原始拍摄图像中所述特征图像是否发生倾斜;
在调整后的所述原始拍摄图像中所述特征图像未发生倾斜时,执行所述从调整后的所述原始拍摄图像中截取所述特征图像,得到所述待检测图像的步骤。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述判断调整后的所述原始拍摄图像中所述特征图像是否发生倾斜的步骤之后,还包括:
在调整后的所述原始拍摄图像中所述特征图像发生倾斜时,对调整后的所述原始拍摄图像中所述特征图像进行校正,并执行所述从调整后的所述原始拍摄图像中截取所述特征图像,得到所述待检测图像的步骤。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对调整后的所述原始拍摄图像中所述特征图像进行校正的步骤包括:
获取所述特征图像的轮廓以及所述背景图像的边缘与所述特征图像的边缘的夹角;
按照所述夹角对所述轮廓进行旋转,得到所述特征图像的校正轮廓;
采用所述特征图像中灰度值替换所述校正轮廓中包含的灰度值。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述灰度差值集合所包括的行和列对应的灰度差值序列中查找最小灰度差值序列,将最小灰度差值序列作为所述图案的最小像素规律周期的步骤之后,还包括:
获取所述最小灰度差值序列的序列长度;
根据所述序列长度将所述灰度差值集合中的灰度差值划分为若干个灰度差值序列。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述灰度差值集合中存在有异常差值序列时,确定所述产品存在缺陷的步骤之后,还包括:
获取所述异常差值序列与所述最小灰度差值序列的差异灰度差值;
获取所述异常差值序列中所述差异灰度差值对应像素点所在的像素位置;
标记所述像素位置为缺陷位置。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述获取所述异常差值序列与所述最小灰度差值序列的差异灰度差值的步骤包括:
按照所述异常差值序列中灰度差值的差值顺序,遍历所述异常差值序列中的灰度差值;
将遍历到的所述灰度差值与所述最小灰度差值序列中的灰度差值进行比较;
在所述最小灰度差值序列中与遍历到的所述灰度差值比较的灰度差值与遍历到的所述灰度差值不相同时,确定遍历到的所述灰度差值为差异灰度差值。
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