[发明专利]控制刷新时序的设备和方法

说明书

本公开涉及用于控制刷新时序的设备和方法。可将刷新命令以随机间隔从存储器控制器提供到存储器装置。在一些实例中，可以随机间隔提供刷新请求，所述刷新请求可用于将刷新命令以随机间隔从所述存储器控制器提供到所述存储器装置。在一些实例中，刷新请求之间的平均时间间隔可等于所述存储器装置的刷新间隔。在一些实例中，所述存储器控制器可推迟将刷新命令提供到所述存储器装置的最大次数可为随机数。在一些实例中，所述随机数的最大值可至少部分基于所述存储器装置在时间间隔内所需的刷新命令的最小数量。

技术领域

本公开涉及用于控制刷新时序的设备和方法。

背景技术

信息可作为物理信号(例如，电容元件上的电荷)存储在存储器的个别存储器单元上。存储器可为易失性存储器，且物理信号可随时间衰减(这可使存储在存储器单元中的信息降级或破坏所述信息)。可有必要通过例如重写信息以将物理信号恢复到初始值来周期性地刷新存储器单元中的信息。

由于存储器组件的尺寸已减小，存储器单元的密度已经大大增加。可在周期性地刷新存储器单元序列的情况下实施自动刷新操作。对特定存储器单元或存储器单元组的重复存取(通常称为‘行锤击(row hammer)’)可导致附近存储器单元中的增加的数据降级速率。除自动刷新操作之外，也可期望在目标刷新操作中识别及刷新受行锤击影响的存储器单元。

由于存储器单元的高存取频率，追踪与每个存取命令(例如，读取、写入)一起提供的地址以便识别受行锤击影响的存储器单元通常是不可行的。存储器装置可使用一或多种技术来对与存取命令一起提供的地址进行采样。但是，采样技术冒着丢失侵略行的风险，特别是在攻击者已经能够确定采样模式并规避它的情况下。因此，可辨性较差的(lessdiscernable)采样技术可为期望的。

发明内容

本公开的方面涉及一种设备，其包括：刷新请求电路，其经配置以在时间间隔已经过去时提供刷新请求，其中所述时间间隔的长度是随机的；及命令产生器，其经配置以至少部分基于所述刷新请求将刷新命令提供到所述存储器装置。

本公开的另一方面涉及一种设备，其包括：刷新请求电路，其经配置以在相应的多个时间间隔提供多个刷新请求；及命令产生器，其经配置以至少部分基于所述多个刷新请求将多个刷新命令提供到存储器，其中所述刷新请求电路经配置以计数所提供的所述多个刷新请求的数量和所提供的所述多个刷新命令的数量，且所述刷新请求电路进一步经配置以在所提供的刷新请求的所述数量等于或超过所提供的刷新命令的所述数量达阈值时提供有效刷新信号，其中所述阈值是随机数，及其中所述命令产生器经配置以在提供所述有效刷新信号时提供等于所述阈值的一定数量的刷新命令。

本公开的又一方面涉及一种方法，其包括：在多个时间间隔中的对应时间间隔提供多个刷新请求，其中所述多个时间间隔中的每一者是随机时间长度；及至少部分响应于所述多个刷新请求而将多个刷新命令提供到所述存储器。

附图说明

图1A是说明由存储器控制器提供到存储器装置的刷新命令的时序图。

图1B是说明由存储器控制器提供到存储器装置的刷新命令的时序图。

图2A是说明由存储器控制器提供到存储器装置的命令和地址的时序图。

图2B是说明由存储器装置接收和采样的地址的时序图。

图3是根据本公开的实施例的半导体装置的框图。

图4是根据本公开的实施例的存储器控制器的部分的框图。

图5是根据本公开的实施例的刷新请求电路的至少部分的框图。

图6是根据本公开的实施例的实例刷新定时器电路的框图。

图7是根据本公开的实施例的实例推迟请求电路的框图。

图8是说明根据本公开的实施例的由存储器装置接收和采样的地址的时序图。