[发明专利]显示面板显示均匀性的检测方法及检测装置

说明书

本发明实施例公开了一种显示面板显示均匀性的检测方法及检测装置，检测方法包括：采集显示面板的待测膜层制作完成后显示面板的表面反射的反射光的第一光学数据；根据第一光学数据确定显示面板中每一子像素对应位置的灰阶数据；根据显示面板中每一子像素对应位置的灰阶数据和标准显示面板的第一标准灰阶数据确定显示面板的显示均匀性。通过在显示面板的待测膜层制作完成后采集经过显示面板反射后的反射光的光学数据，得到可量化、重复性高、准确度高的灰阶数据，通过灰阶数据计算显示面板正面的灰阶分布来宏观监控膜质变化进而反馈出显示均匀性变化，实现对显示面板显示均匀性的量化检测，提高了显示面板显示均匀性的检测效率。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板显示均匀性的检测方法及检测装置。

背景技术

有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode，OLED)面板具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应速度快、轻薄、对比度高等优点，越来越广泛地被应用于手机、电脑等具有显示功能的装置中。

当前OLED显示面板的显示均匀性的检测方式存在检测效率低，无法量化的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示面板显示均匀性的检测方法及检测装置，以实现对显示面板显示均匀性的量化检测，并提高显示面板显示均匀性的检测效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板显示均匀性的检测方法，包括：

采集显示面板的待测膜层制作完成后显示面板的表面反射的反射光的第一光学数据；

根据所述第一光学数据确定所述显示面板中每一子像素对应位置的灰阶数据；

根据所述显示面板中每一子像素对应位置的灰阶数据和标准显示面板的第一标准灰阶数据确定所述显示面板的显示均匀性。

可选的，根据所述显示面板中每一子像素对应位置的灰阶数据和标准显示面板的第一标准灰阶数据确定所述显示面板的显示均匀性，包括：

根据所述显示面板中每一子像素对应位置的灰阶数据确定所述显示面板每一待检测区域的第一待测灰阶分布数据；其中，所述显示面板包括至少两个待检测区域；

根据所述第一标准灰阶数据确定所述标准显示面板与所述待检测区域对应的区域的第一标准灰阶分布数据；

根据所述第一待测灰阶分布数据和所述第一标准灰阶分布数据确定所述待检测区域的显示均匀性；

根据每一所述待检测区域的显示均匀性确定所述显示面板的显示均匀性。

可选的，所述第一待测灰阶分布数据包括中位数、众位数和四分位数；所述第一标准灰阶分布数据包括中位数标准范围、众位数标准范围和四分位数标准范围；

根据所述第一待测灰阶分布数据和所述第一标准灰阶分布数据确定所述待检测区域的显示均匀性，包括：

若所述中位数、众位数和四分位数中的至少两项满足对应的标准范围，则确定所述待检测区域显示均匀；

若所述中位数、众位数和四分位数中有两项不满足对应的标准范围，则确定所述待检测区域为待验证检测区域；

若所述中位数、众位数和四分位数中全部不满足对应的标准范围，则确定所述待检测区域显示不均匀。

可选的，方法还包括：

采集待验证检测区域反射的反射光的第二光学数据；

去除所述第二光学数据中除所述待测膜层外的其他膜层的背景光学数据，得到第三光学数据；

根据所述第三光学数据确定所述待验证检测区域中每一子像素对应位置的灰阶数据；