[发明专利]基于成像系统的测试设备、测试方法以及测试装置

权利要求书

1.一种基于成像系统的测试设备，其特征在于，包括：

光源，与成像系统间隔设置；

测试卡，设于所述光源的出光侧，所述测试卡设有透光孔；

其中，所述光源发出的光可透过所述透光孔而被所述成像系统采集，所述透光孔可在所述成像系统中形成光斑图像；所述光斑图像可用于判读所述成像系统的虚化程度。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试卡上设有多个透光孔，相邻两个所述透光孔之间的间距不小于5cm。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，当所述透光孔作为前景图像在所述成像系统中形成光斑图像时，所述光斑图像不超过所述成像系统的最小分辨率大小。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括调节装置和扩散板，所述调节装置与所述光源耦接，以用于调节所述光源的发光亮度；所述扩散板设于所述光源和所述测试卡之间，所述光源发出的光可经由所述扩散板被弥散为均匀的面光源。

5.一种基于成像系统的测试方法，所述测试方法可应用于测试设备，其特征在于，所述测试设备包括光源和测试卡，所述光源与成像系统间隔设置；所述测试卡设于所述光源的出光侧，所述测试卡设有透光孔；其中，所述测试方法包括：

根据预设的前景距离和背景距离控制待测成像系统获取目标透光孔的图像；

根据所述目标透光孔的图像判读所述待测成像系统的虚化程度；

其中，所述目标透光孔可在所述待测成像系统中形成光斑图像，所述光斑图像可用于判读所述待测成像系统的虚化程度。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标透光孔的图像判读所述待测成像系统的虚化程度的步骤包括：

获取与所述待测成像系统对应的目标透光孔；

获取所述目标透光孔在所述待测成像系统中形成的光斑图像；

根据所述光斑图像来判读所述待测成像系统的虚化程度。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述获取与所述待测成像系统对应的目标透光孔的步骤包括：

根据所述待测成像系统的物距、像距以及最小分辨率确定所述目标透光孔的尺寸。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述光斑图像来判读所述待测成像系统的虚化程度的步骤包括：

获取所述光斑图像灰度值的峰值；

根据所述峰值设置所述光斑图像的判读阈值；

根据所述峰值所在位置向周围查找不小于所述判断阈值的像素；

根据查找到的所述像素数量输出所述待测成像系统的虚化程度。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，根据查找到的所述像素获取所述目标透光孔的虚化图像的边界坐标，根据所述边界坐标获取所述虚化图像覆盖的像素数量；其中，所述像素数量可用于表征所述待测成像系统的虚化程度。

10.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述获取目标透光孔的图像的步骤之前包括：

对所述测试卡上的非目标透光孔进行遮光处理。

11.一种基于成像系统的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括相互耦接的处理器和存储器，其中，

所述处理器被配置为用于执行所述存储器存储的计算机程序以执行权利要求5-10任一项所述的测试方法。