[发明专利]一种钛合金螺栓头部晶粒流线试样的制备方法在审

专利信息
申请号: 202111318063.8 申请日: 2021-11-08
公开(公告)号: CN114112606A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 贾智宇;邬建新;赵兴丽;张媛媛;王娜;陈程;李慧;王景海;张敬彤 申请(专利权)人: 陕西飞机工业有限责任公司
主分类号: G01N1/32 分类号: G01N1/32
代理公司: 贵州国防工业专利中心 52001 代理人: 陆斌
地址: 72321*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 钛合金 螺栓 头部 晶粒 流线 试样 制备 方法
【说明书】:

本申请提供一种TC4钛合金螺栓头部晶粒流线试样的制备方法,属于航空技术领域。该方法包括:镶嵌磨制钛合金螺栓头部晶粒流线样品;采用制备好的腐蚀剂对钛合金螺栓头部晶粒流线样品进行处理,并吹干,所述腐蚀剂包括氢氟酸分析纯、盐酸分析纯、硝酸分析纯、硫酸分析纯、醋酸分析纯、酒精、硫酸铜和去离子水中的至少三种;采用金相显微镜确定处理后的钛合金螺栓头部晶粒流线样品的金相组织,最终能够直观清晰地显示TC4钛合金螺栓头部晶粒流线。

技术领域

本申请属于航空技术领域,尤其涉及一种钛合金螺栓头部晶粒流线试样的制备方法。

背景技术

目前螺栓锻件缺陷的存在,不仅会造成螺栓的性能低劣,甚至严重制约所制成品件的使用寿命。因此螺栓锻件进行头部晶粒流线检验,在实际生产中具有重要意义。

对于TC4钛合金螺栓来说,能否清晰显现镦头处的晶粒流线,获得完整的晶粒流线分布信息,成为最终能否得到准确,可靠评定结果的关键。

发明内容

为了解决现有技术中无法清晰显现TC4钛合金螺栓镦头处的晶粒流线完整的晶粒流线分布信息的问题,本申请提供一种能够直观清晰地显示TC4钛合金螺栓头部晶粒流线的试样制备方法,所述技术方案如下:

一种TC4钛合金螺栓头部晶粒流线的试样制备方法。包括:

镶嵌磨制钛合金螺栓头部晶粒流线样品;

采用制备好的腐蚀剂对钛合金螺栓头部晶粒流线样品进行处理,并吹干,所述腐蚀剂包括氢氟酸分析纯、盐酸分析纯、硝酸分析纯、硫酸分析纯、醋酸分析纯、酒精、硫酸铜和去离子水中的至少三种;

采用金相显微镜确定处理后的钛合金螺栓头部晶粒流线样品的金相组织。

可选地,所述制备好的腐蚀剂由5ml~10ml氢氟酸分析纯、10ml~30ml硝酸分析纯、30ml~60ml的去离子水组成。

可选地,所述制备好的腐蚀剂由5ml氢氟酸分析纯、15ml硝酸分析纯和30ml去离子水组成。

可选地,所述制备好的腐蚀剂由8ml氢氟酸分析纯、15ml硝酸分析纯和37ml去离子水组成。

可选地,所述制备好的腐蚀剂由10ml氢氟酸分析纯、30ml硝酸分析纯和60ml去离子水组成。

可选地,所述镶嵌磨制钛合金螺栓头部晶粒流线样品,包括:

将镶嵌后的钛合金螺栓头部晶粒流线样品进行粗磨,粗磨采用180#水砂纸,之后依次采用400#水砂纸、800#水砂纸和1200#水砂纸进行细磨。

可选地,所述采用制备好的腐蚀剂对镶嵌磨制后的钛合金螺栓头部晶粒流线样品进行腐蚀处理,并吹干,包括:

将制备好的钛合金螺栓头部晶粒流线样品放入呈有腐蚀剂的烧杯中,

待预设时长后从烧杯中取出钛合金螺栓头部晶粒流线样品;

对取出的钛合金螺栓头部晶粒流线样品进行冲洗并用酒精擦拭;

将擦拭后的钛合金螺栓头部晶粒流线样品吹干。

可选地,所述预设时长为1~3分钟。

本申请提供的钛合金螺栓头部晶粒流线样品制备方法,能够清晰显示TC4钛合金螺栓头部晶粒流线。

附图说明

图1为本申请提供的钛合金螺栓头部晶粒流线样品的制备方法的流程图;

图2为本申请提供的一种钛合金螺栓头部晶粒流线样品的制备方法的流程图。

具体实施方式

下面通过具体的实施方式连接附图对本申请作进一步详细说明。

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