[发明专利]光学测量设备在审

专利信息
申请号: 202111319078.6 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN114518069A 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 南川义久;武井英人;末村悠祐 申请(专利权)人: 株式会社基恩士
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/27
代理公司: 北京格罗巴尔知识产权代理事务所(普通合伙) 11406 代理人: 项军花
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 测量 设备
【权利要求书】:

1.一种光学测量设备,其包括:

光投射单元,其朝向测量区域投射平行光;

光接收单元,其与所述光投射单元侧相对放置并接收经过所述测量区域的平行光,并产生放置在所述测量区域中的测量对象物的图像;和

尺寸测量部件,其基于所述光接收单元中产生的图像对所述测量对象物进行尺寸测量,

其中,所述光接收单元包括:

光接收侧远心透镜,其中经过所述测量区域的平行光入射到所述光接收侧远心透镜;

二维成像元件,其接收经过所述光接收侧远心透镜的光,并拍摄所述测量区域中的所述测量对象物的图像,用以产生所述测量区域中的所述测量对象物的图像;

箱形的光接收壳体,其一个侧面上形成有导入开口并容纳所述二维成像元件,在不同于所述一个侧面的外面上设置有放置时作为基准的基准面和经由所述基准面进行放置的壳体安装孔,并且所述光接收侧远心透镜安装在所述光接收壳体上;

成像元件保持件,其保持以所述二维成像元件的位置和姿势相对于所述光接收壳体的与所述一个侧面相对的内面可调节的方式安装的所述二维成像元件;以及

盖,其关闭所述导入开口。

2.根据权利要求1所述的光学测量设备,其特征在于,

所述二维成像元件经由调节机构安装在所述光接收壳体的内面上,所述调节机构能够调节所述二维成像元件和所述成像元件保持件的位置和姿势,

所述调节机构具有固定工具,所述固定工具在所述二维成像元件固定到所述光接收壳体的固定状态和所述二维成像元件能够相对于所述光接收壳体位移的未固定状态之间切换,并且

在所述光接收壳体中的与形成所述导入开口的面不同的面上形成用于从所述光接收壳体的外部访问所述调节机构的固定工具的第一访问开口。

3.根据权利要求2所述的光学测量设备,其特征在于,

从与所述二维成像元件的成像面大致正交的方向可访问所述固定工具地形成所述第一访问开口。

4.根据权利要求2所述的光学测量设备,其特征在于,所述光学测量设备还包括:

固定构件,其以所述光投射单元和所述光接收单元彼此面对的方式可拆卸地固定所述光投射壳体和所述光接收壳体,

在所述固定构件中,在与固定到所述固定构件的所述光接收壳体中形成的所述第一访问开口对应的位置处形成与所述第一访问开口连通的贯通孔。

5.根据权利要求1所述的光学测量设备,其特征在于,

所述光接收壳体还包括位于所述光接收壳体的前面并且接收经过所述测量区域到内部的所述平行光的接收窗,并且

所述光接收侧远心透镜安装在所述光接收窗中。

6.根据权利要求1所述的光学测量设备,其特征在于,所述光学测量设备还包括:

第一座,其形成在所述光接收壳体中,用于安装所述光接收侧远心透镜,

所述光接收侧远心透镜固定到所述第一座。

7.根据权利要求6所述的光学测量设备,其特征在于,所述光学测量设备还包括:

透镜施力构件,其在压向所述第一座的方向上对所述光接收侧远心透镜施力。

8.根据权利要求1所述的光学测量设备,其特征在于,

在所述光接收壳体中还安装有反射器,所述反射器用于使经过所述光接收侧远心透镜的光返回并将所述光引导到所述二维成像元件,并且

所述光接收侧远心透镜和所述反射器均固定地安装到所述光接收壳体。

9.根据权利要求1所述的光学测量设备,其特征在于,

在所述光接收壳体中形成有用于安装反射器的第二座,所述反射器用于使经过所述光接收侧远心透镜的光返回并将所述光引导到所述二维成像元件。

10.根据权利要求9所述的光学测量设备,其特征在于,所述光学测量设备还包括:

反射器施力构件,其在将所述反射器压向所述第二座的方向上施力。

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