[发明专利]基于应力概率密度法的结构随机疲劳寿命估算方法在审

专利信息
申请号: 202111319645.8 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN114021357A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 沙云冬;唐晓宁 申请(专利权)人: 沈阳航空航天大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F30/15;G06F17/18;G06F119/02;G06F119/04;G06F119/14
代理公司: 沈阳东大知识产权代理有限公司 21109 代理人: 李在川
地址: 110136 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 基于 应力 概率 密度 结构 随机 疲劳 寿命 估算 方法
【权利要求书】:

1.一种基于应力概率密度法的结构随机疲劳寿命估算方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:在随机载荷作用下,分别提取薄壁结构在空间坐标系中x、y、z三个方向上的正应力和剪应力;

步骤2:在随机载荷作用下,获取薄壁结构服从Weibull分布的Von Mises应力,求解VonMises应力分量平方过程,得到Weibull参数m和η;

Von Mines应力在三维空间中被定义为:

其中,sv表示Von Mines应力,sx、sy、sz分别表示x、y、z方向的正应力,sxy、syz、sxz分别表示x、y、z方向的剪应力;

步骤3:基于窄带随机过程的条件,得出非Gauss过程的应力峰值概率密度函数Pp(s);

步骤4:基于Miner线性累计损伤理论,结合非Gauss过程的应力峰值概率密度函数Pp(s)建立随机疲劳寿命估算模型来确定薄壁结构的疲劳寿命。

2.根据权利要求1所述的基于应力概率密度法的结构随机疲劳寿命估算方法,其特征在于:所述步骤3的过程如下:

步骤3.1:将弱阻尼系统的响应认定为窄带随机过程,推导出非Gauss过程的应力峰值概率密度函数Pp(s)的近似表达式:

其中,Γ()为伽玛函数;s为应力幅值,对于Von Mises应力过程,幅值是有效峰值与过程标准差的组合,即:

s=s有效+σ(sv)=sv-E(sv)+σ(sv)

其中,sv为Von Mises应力,s有效为Von Mises应力有效峰值,E(sv)、σ(sv)分别为VonMises应力的均值和标准差;

步骤3.2:将步骤3.1中的公式进行整合,得到Von Mises应力过程的峰值概率密度函数Pp(s)为:

3.根据权利要求1所述的基于应力概率密度法的结构随机疲劳寿命估算方法,其特征在于:所述步骤4的过程如下:

步骤4.1:对于窄带随机过程,采用Basquin方程作为疲劳寿命估算的失效模型,根据Miner线性累计损伤理论,结合应力峰值概率密度函数确定窄带随机过程下的疲劳寿命T;

步骤4.2:对于宽带随机过程,结合局部峰值对薄壁结构疲劳寿命的影响,根据Wirsching模型对疲劳寿命T进行修正,获得适用于宽带随机过程的疲劳寿命T1

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