[发明专利]散射校正方法和设备

说明书

本申请涉及一种散射校正方法和设备，其中，该散射校正方法包括：获取扫描对象的定位像；基于训练好的散射校正模型，根据定位像，确定扫描对象的散射分布估计信息；基于定位像获取扫描对象的扫描信息；根据散射分布估计信息对扫描信息进行散射校正。通过本申请，解决了相关技术中由于散射估计耗时较长，导致整个散射校正过程时间成本较高、效率较低的问题，节约了散射估计的时间，提高了散射校正过程的效率。

技术领域

本申请涉及医学影像技术领域，特别是涉及散射校正方法和设备。

背景技术

电子计算机断层扫描(Computed Tomography，简称为CT)设备利用精确准直的X射线、γ射线、超声波等，与灵敏度极高的探测器一同围绕扫描对象的某一部位作一个接一个的断面扫描，具有扫描时间快，图像清晰等特点，可用于多种疾病的检查。在CT扫描过程中，射线和扫描对象相互作用产生的散射信号被探测器接收后，可能会导致基于CT的扫描图像出现发黑的条状、带状或不均匀的杯状伪影，从而降低扫描图像中软组织对比度和CT值准确性，影响扫描图像的质量。因此在获取最终的扫描图像前，需要对扫描图像进行散射校正，抑制散射信号对扫描图像的影响。

在相关技术中，是基于待扫描者的正式扫描图像进行散射估计，根据散射估计的结果对正式扫描图像进行散射校正。由于散射估计耗时较长，所以整个散射校正过程时间成本较高，散射校正的效率较低。

目前针对相关技术中由于散射估计耗时较长，导致整个散射校正过程时间成本较高、效率较低的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种散射校正方法和设备，以至少解决相关技术中由于散射估计耗时较长，导致整个散射校正过程时间成本较高、效率较低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种散射校正方法，包括：

获取扫描对象的定位像；

基于训练好的散射校正模型，根据所述定位像，确定所述扫描对象的散射分布估计信息；

基于所述定位像获取所述扫描对象的扫描信息；

根据所述散射分布估计信息对所述扫描信息进行散射校正。

在其中一些实施例中，

所述散射校正模型以样本定位像和样本散射分布估计信息作为训练集，其中，所述样本定位像和所述样本散射分布估计信息对应；或者，

所述散射校正模型以样本定位像和样本扫描信息作为训练集，其中，所述样本定位像和所述样本扫描信息对应。

在其中一些实施例中，在所述散射校正模型以样本定位像和样本扫描信息作为训练集的情况下，所述确定所述扫描对象的散射分布估计信息包括：

根据所述散射校正模型确定扫描信息估计结果，利用散射分布估计算法对所述扫描信息估计结果进行模拟计算，以确定所述散射分布估计信息，其中，所述散射分布估计算法至少包括以下之一：蒙特卡洛模拟算法、散射核叠加算法、深度学习算法。

在其中一些实施例中，

所述扫描信息包括投影数据和/或扫描图像；

所述散射分布估计信息包括与所述投影数据对应的散射分布数据，和/或，与所述扫描图像对应的散射分布图像；

所述散射校正模型包括与所述投影数据对应的第一散射校正模型，和/或，与所述扫描图像对应的第二散射校正模型。

在其中一些实施例中，所述基于训练好的散射校正模型，根据所述定位像，确定所述扫描对象的散射分布估计信息包括：

基于所述第一散射校正模型确定和预设投影数量对应的初始散射分布数据；