[发明专利]内存错误检测方法及相关设备在审

专利信息
申请号: 202111320737.8 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN116107861A 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 王帅;王维洲;徐洋 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 袁建设;陈敬华
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 内存 错误 检测 方法 相关 设备
【权利要求书】:

1.一种内存错误检测方法,其特征在于,应用于电子设备,所述电子设备包括编译器,所述编译器包括编译器前端、分析插桩模块及编译器后端,所述方法包括:

所述编译器前端接收输入的源程序并将所述源程序转换为中间程序,并将所述中间程序发送至所述分析插桩模块;

所述分析插桩模块通过污点分析方法确定所述中间程序中的目标内存访问程序,并对所述目标内存访问程序进行插桩处理,并将插桩处理完成的所述中间程序发送至编译器后端,其中所述插桩处理为在对应程序中插入地址消除器;

所述编译器后端将所述插桩处理完成的中间程序转换为目标程序。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分析插桩模块包括第一地址消除器模块和第一地址消除器优化模块;

所述分析插桩模块通过污点分析方法确定所述中间程序中的目标内存访问程序,并对所述目标内存访问程序进行插桩处理包括:

所述第一地址消除器模块确定所述中间程序中的内存访问程序,对所述内存访问程序进行插桩处理,将插桩处理完成的所述中间程序发送至所述第一地址消除器优化模块;

所述第一地址消除器优化模块通过污点分析方法确定所述内存访问程序中的目标内存访问程序和非目标内存访问程序,并删除所述非目标内存访问程序的地址消除器。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分析插桩模块包括第二地址消除器优化模块和第二地址消除器模块;

所述分析插桩模块通过污点分析方法确定所述中间程序中的目标内存访问程序,并对所述目标内存访问程序进行插桩处理包括:

所述第二地址消除器优化模块通过污点分析方法确定所述中间程序中的目标内存访问程序;

所述第二地址消除器模块对所述目标内存访问程序进行插桩处理。

4.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述污点分析方法为静态污点分析。

5.一种内存错误检测装置,其特征在于,包括编译器,所述编译器包括编译器前端、分析插桩模块及编译器后端;

所述编译器前端用于接收输入的源程序并将所述源程序转换为中间程序,并将所述中间程序发送至所述分析插桩模块;

所述分析插桩模块用于通过污点分析确定所述中间程序中的目标内存访问程序,并对所述目标内存访问程序进行插桩处理,并将插桩处理完成所述中间程序发送至编译器后端,其中所述插桩处理为在对应程序中插入地址消除器;

所述编译器后端用于将所述插桩处理完成的中间程序转换为目标程序。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,

所述分析插桩模块包括第一地址消除器模块和第一地址消除器优化模块;

所述第一地址消除器模块用于确定所述中间程序中的内存访问程序,对所述内存访问程序进行插桩处理,将所述中间程序发送至所述第一地址消除器优化模块;

所述第一地址消除器优化模块用于通过污点分析方法确定所述内存访问程序中的目标内存访问程序和非目标内存访问程序,并删除所述非目标内存访问程序的地址消除器。

7.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述分析插桩模块包括第二地址消除器优化模块和第二地址消除器模块;

所述第二地址消除器优化模块用于通过污点分析方法确定所述中间程序中的目标内存访问程序;

所述第二地址消除器模块用于对所述目标内存访问程序进行插桩处理。

8.如权利要求6或7所述的装置,其特征在于,所述污点分析方法为静态污点分析。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,包括计算机指令,当所述计算机指令在电子设备上运行时,使得所述电子设备执行如权利要求1至4任一项所述的内存错误检测方法。

10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括处理器和存储器,所述存储器用于存储指令,所述处理器用于调用所述存储器中的指令,使得所述电子设备执行如权利要求1至4任一项所述的内存错误检测方法。

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