[发明专利]静电放电保护电路在审
申请号: | 202111321663.X | 申请日: | 2021-11-09 |
公开(公告)号: | CN116111566A | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 吴涵歆;黄崇祐 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H02H9/02 | 分类号: | H02H9/02;H02H9/04 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 马明月 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 放电 保护 电路 | ||
一种静电放电(ESD)保护电路,包含多个ESD箝位电路与分流电路。多个ESD箝位电路分别包含多个晶体管。多个晶体管串联耦合在第一电源线和第二电源线之间。分流电路耦合在多个晶体管中的第一晶体管的第一端和控制端,用于在ESD事件期间将第一晶体管的第一端导通至第一晶体管的控制端,以抬升第一晶体管的控制端的电压。在ESD事件期间之外的期间,分流电路绝缘第一晶体管的第一端与控制端。
技术领域
本公开涉及一种保护电路,特别地,涉及一种静电放电保护电路。
背景技术
电子装置在制造、生产、存放、使用等的过程中可能会累积静电,累积的静电电荷通过电子装置中的路径泄流称为静电放电(ESD)事件。ESD事件会对电子装置中的元件造成永久性的破坏,所以现今的晶片中通常包含耦合在电源线与接地线之间的ESD保护电路。在ESD事件期间,ESD保护电路会形成电源线与接地线之间的泄流路径以旁路ESD电流,进而避免ESD电流流入晶片内部而烧毁晶片。
发明内容
本公开提供一种静电放电(ESD)保护电路,其包含多个ESD箝位电路与分流电路。多个ESD箝位电路分别包含多个晶体管。多个晶体管串联耦合在第一电源线和第二电源线之间。分流电路耦合在多个晶体管中的第一晶体管的第一端和控制端,用于在ESD事件期间将第一晶体管的第一端导通至第一晶体管的控制端,以抬升第一晶体管的控制端的电压。在ESD事件期间之外的期间,分流电路绝缘第一晶体管的第一端与控制端。
上述ESD保护电路的优点之一是适用于耐压程度较低的先进制程。
上述ESD保护电路的另一优点是能确保对ESD电流的泄流能力。
附图说明
图1为根据本公开的实施例的静电放电(ESD)保护电路的示意图。
图2为根据本公开的实施例的ESD保护电路的示意图。
图3为根据本公开的实施例的ESD保护电路的示意图。
具体实施方式
以下将配合相关图式来说明本公开的实施例。在图式中,相同的标号表示相同或类似的元件或方法流程。
图1为根据本公开的实施例的静电放电(ESD)保护电路100的示意图。ESD保护电路100耦合在电源线PW1和电源线PW2之间。ESD保护电路100用于在ESD事件发生时在电源线PW1和电源线PW2之间形成短路,以在电源线PW1和电源线PW2之间形成ESD电流之泄流路径。在一些实施例中,电源线PW1、电源线PW2和ESD保护电路100是一晶片(未绘示)的周边电路,电源线PW1和电源线PW2分别用于提供工作电压(例如5V)和接地电压至晶片的内部电路。因此,在ESD事件发生时,ESD保护电路100能保护晶片中耦合在电源线PW1和电源线PW2的电子元件(未绘示)。ESD保护电路100包含多个ESD箝位电路110A~110C、偏压电路120、分流电路130以及偏压电路140,以下首先说明ESD箝位电路110A~110C与偏压电路120的结构与运行。
在结构上,ESD箝位电路110A~110C分别包含晶体管P1、晶体管N1和晶体管N2,其中晶体管P1、晶体管N1和晶体管N2以此顺序串联耦合在电源线PW1和电源线PW2之间。详细而言,晶体管P1的第一端和第二端分别耦合在电源线PW1和节点VN;晶体管N1的第一端和第二端分别耦合在节点VN和晶体管N2的第一端;晶体管N2的第二端则耦合在电源线PW2。
ESD箝位电路110A还包含驱动电路112A。驱动电路112A包含电阻R1与电容C1,其中电阻R1耦合在电源线PW1与晶体管P1的控制端之间,电容C1耦合在晶体管P1的控制端与电源线PW3之间。换言之,驱动电路112A用于根据电源线PW1的电压和电源线PW3的电压控制晶体管P1。
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