[发明专利]抛光度智能分析仪

说明书

本发明涉及一种抛光度智能分析仪，包括分析仪框架、布米机构和图像检测机构，其技术要点是：布米机构包括安装架、振动器和振动米斗，振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，导流口下方承接有米粒流动盘，米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组；图像检测机构的密封箱内部设有相机，密封箱上表面倾斜于水平面并固定透明盖板，密封箱前高后低且其前侧面设有连接米粒流动盘的固定架。本发明解决了现有分析仪不能实现在线长期连续检测的问题，可在连续时间内对不间断的米流进行光洁度和米粒表面明暗变化的检测，大大提高了检测精度，故障率低，制作成本低。

技术领域

本发明涉及大米等米粒加工精度检测设备，具体涉及一种抛光度智能分析仪。

背景技术

随着人们生活水平不断提高，人们对大米等农作物的品质和口感提出了更高的要求，品质优良、外表晶莹光滑的精米受到人们的普遍青睐。因此，大米抛光是大米精加工工艺流程中必不可少的一道工序。大米抛光是指糙米经过多机碾白后，去除碎米和糠片，经喷雾着水、润米后，进入抛光机的抛光室内，在一定的压力和温度下，通过摩擦使米粒表面上光。通过抛光处理，不仅可以清除米粒表面浮糠，还起到使米粒表面淀粉预糊化和胶质化的作用，淀粉糊化弥补裂纹，从而获得色泽晶莹光洁的外观质量，提高大米的储藏性能和实用品质。

抛光度分析仪是用来检测大米等米粒抛光度的设备，其主要由布米机构和检测机构组成，布米机构在米粒承载面上方移动并布米，然后布米机构退出米粒承载面上方，检测机构在驱动机构带动下来到米粒承载面上方，在移动状态下全面检测承载面上的米粒的抛光度，而后检测机构退出米粒承载面上方，米粒承载面翻转，将米投入回收槽中，最后米粒承载面复位，布米机构继续下一轮布米操作。现有的分析仪在使用过程中存在如下问题：

1、均匀布米性不足，会存在叠粒的情况，降低了分析仪的检测精度；2、通常是布米机构在水平的承载面上方往复移动布米，然后承载面通过振动器振动使米粒再均匀分布，最后图像检测机构采集图像后，承载面翻转倒米，布米机构再次布米，这种工作方式需要多个驱动机构作辅助，布米效率低，且故障率高； 3、随米粒落于承载面上方的米垢容易附着于承载面，积累过多后无法轻易卸除，影响后期检测结果；4、由于承载面积有限，故图像检测机构与布米机构交替在承载面上方工作，检测工作是间断性的，然而对于抛光度检测指标来说，应在连续时间内对不间断的米流检测出米粒的平均光洁度和表面明暗变化，上述结构形式无法满足检测条件，故导致目前的图像检测机构检测精度较低。

综上，现有抛光度分析仪存在检测精度低、故障率高、制作成本高、不能实现在线长期连续检测的问题。基于此，现有的抛光度分析仪急需改进。

发明内容

本发明的目的是为了提供一种结构合理、使用可靠的抛光度智能分析仪，解决现有分析仪不能实现在线长期连续检测的问题，可在连续时间内对不间断的米流进行光洁度和米粒表面明暗变化的检测，大大提高了检测精度，故障率低，制作成本低。

本发明的技术方案是：

一种抛光度智能分析仪，包括分析仪框架、布米机构和图像检测机构，其技术要点是：所述布米机构和图像检测机构由前至后依次设于分析仪框架内，布米机构包括与分析仪框架前端连接的安装架、设于安装架上的振动器、与振动器连接的振动米斗，所述振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，所述导流口下方承接有米粒流动盘，所述米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘的下表面设有加热器，所述振动米斗的侧壁上设有海绵支撑体，振动米斗的上方悬设有下米管组件，所述下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，所述下米管组件朝向导流口侧固定有硅胶垫且硅胶垫向导流口延伸，所述硅胶垫末端与振动米斗底面之间留有出米间隙；