[发明专利]大米加工精度智能分析仪在审
申请号: | 202111326319.X | 申请日: | 2021-11-10 |
公开(公告)号: | CN114002220A | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 吕学威;吕顺;韩太宇;吕学庚;刘继亮 | 申请(专利权)人: | 美骏智能装备(盘锦)有限公司;辽宁美骏智能装备有限公司;美骏智能装备(北京)有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 沈阳鼎恒知识产权代理事务所(普通合伙) 21245 | 代理人: | 赵月娜 |
地址: | 124000 辽宁省盘锦市大洼区*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大米 加工 精度 智能 分析 | ||
本发明涉及一种大米加工精度智能分析仪,包括支撑结构、布米机构和图像检测机构,布米机构包括布米支架、振动器、振动米斗,图像检测机构包括检测支撑、相机群组,其技术要点是:检测支撑包括密封箱、上支撑架单元、下支撑架单元,密封箱上表面设有贯通口且在贯通口处固定透明盖板,密封箱上表面在工作状态下倾斜于水平面;振动米斗的底面为平面,振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口,密封箱上表面对应透明盖板前侧的位置固定米粒流动盘,米粒流动盘上表面与密封箱上表面平行,米粒流动盘前端承接于导流口下方。本发明解决了现有分析仪不能实现在线长期连续监测的问题,不仅大大提高了检测精度和检测效率,也降低了制作成本和故障率。
技术领域
本发明涉及大米加工检测设备技术领域,具体涉及一种大米加工精度智能分析仪,也适用于其他农作物颗粒加工精度的检测分析。
背景技术
目前,在大米脱壳精加工作业过程中,需要对大米加工精度进行检测分析,如留胚率、碎米率、黄粒米率、病斑率、杂质率、垩白率和混米率等。大米加工精度检测分析的步骤是先通过布米机构在线承接一定量的米粒,而后在二维平面内的移动状态下将米粒投放于与水平面平行的承载盘上,而后布米机构退离承载盘上方,检测机构到达承载盘上方进行图像采集分析,检测完成后承载盘翻转,米粒掉落实现收集回收,接下来,布米机构再次在承载盘上布米,进行下一轮检测。在整个过程中,主要存在如下问题:
1、现有的分析仪图像检测机构包括在垂直方向上位于承载盘上方的摄像头组,为了摄像角度的全面性,通过摄像头组的各个摄像头支架可以承载盘上方进行二维移动,位于摄像头支架上的各个摄像头的支座可以带动摄像头实现一定角度的摆动,从而调整摄像头天面的朝向。但即使如此,图像检测机构的各个摄像头均位于米粒的承载盘上方,由于米粒在盘上的形态、米粒哪个面与盘面接触具有极大的随机性,则摄像头摄取的米粒外表面的完整度较低,极大的影响了检测精度,尤其是对米粒外表面指标的检测精度,如留胚率、黄粒米率、病斑率等;其次,摄像头支架需要配置二维移动驱动机构,而摄像头支座也需要配置摆动驱动机构,这种配置方案故障率高,需要频繁维护,且制作成本高;而且,由于承载盘的承载面积有限,故图像检测机构与布米机构交替在承载盘上方工作,检测工作是间断性的,实际上现有的检测机构不能实现米粒加工过程中在线长期连续监测,工作效率低,也影响了整体的检测精度。
2、现有的布米机构通常是取定量米粒后在二维平面内的移动状态下将米粒投放于与水平面平行的承载盘上,而后布米机构退离承载盘上方,承载盘接料后在振动器作用下使盘上的米粒分布均匀,接下来检测机构进行图像采集分析。这种结构形式不适于连续性布料检测,布米量有限,不适于分析仪实现长期连续监测;其次,由于移动状态下投料,故障率高,且布米机构需配置驱动机构,制作成本高;随米粒落于承载盘上方的米垢容易附着在盘体上表面,积累过多后无法轻易卸除,影响后期检测结果。
综上,现有的分析仪存在着检测精度低、故障率高、制作成本高、不能实现在线长期连续监测的问题。
发明内容
本发明的目的是为了提供一种结构合理、使用可靠的大米加工精度智能分析仪,解决现有分析仪不能实现在线长期连续监测的问题,与现有分析仪相比,不仅大大提高了检测精度和检测效率,也降低了制作成本和故障率。
本发明的技术方案是:
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