[发明专利]一种探测器校正方法和系统

权利要求书

1.一种探测器校正方法，包括：

获取所述探测器的输出值，所述输出值与所述探测器接收的辐射光子能量值相关；

获取校正信息，所述校正信息用于校正所述探测器的光电传感器的信号输出非线性；

基于所述校正信息确定所述输出值的校正值；

基于所述校正值，确定探测器能谱，所述探测器能谱表示所述辐射光子的能量值与所述辐射光子的计数之间的关系。

2.如权利要求1所述的方法，所述获取校正信息包括：

获取所述探测器的多组采样值，每组采样值包括输入能量采样值和与所述输入能量采样值对应的输出采样值；

对所述多组采样值进行拟合，确定所述校正信息。

3.如权利要求1所述的方法，所述基于所述校正值，确定探测器能谱包括：

基于所述校正值确定所述探测器的晶体校正系数；

基于所述晶体校正系数，确定所述探测器能谱。

4.如权利要求3所述的方法，所述探测器包括多个晶体；

所述基于所述校正值确定所述探测器的晶体校正系数包括：

对于每个所述晶体，

基于所述校正值确定第一晶体能谱，所述第一晶体能谱表示所述晶体接收的所述辐射光子的计数与对应的所述校正值之间的关系；

获取所述第一晶体能谱上能峰对应的所述能量值及对应的所述校正值；

基于所述能峰对应的所述能量值和对应的所述校正值确定所述晶体校正系数。

5.如权利要求4所述的方法，所述基于所述晶体校正系数，确定探测器能谱包括：

对于每个所述晶体，基于所述晶体校正系数和所述第一晶体能谱确定第二晶体能谱，所述第二晶体能谱表示所述晶体接收的所述辐射光子的能量值与对应的所述辐射光子的计数之间的关系；

基于所述第二晶体能谱确定所述探测器能谱。

6.一种探测器校正系统，包括输出值获取模块、校正信息获取模块、校正值确定模块和能谱确定模块；

所述输出值获取模块用于获取所述探测器的输出值，所述输出值与所述探测器接收的辐射光子能量值相关；

所述校正信息获取模块用于获取校正信息，所述校正信息用于校正所述探测器的光电传感器的信号输出非线性；

所述校正值确定模块用于基于所述校正信息确定所述输出值的校正值；

所述能谱确定模块用于基于所述校正值，确定探测器能谱，所述探测器能谱表示所述辐射光子的能量值与所述辐射光子的计数之间的关系。

7.如权利要求6所述的系统，所述校正信息获取模块包括采样单元和拟合单元；

所述采样单元用于获取所述探测器的多组采样值，每组采样值包括输入能量采样值和与所述输入能量采样值对应的输出采样值；

所述拟合单元用于对所述多组采样值进行拟合，确定所述校正信息。

8.如权利要求6所述的系统，所述能谱确定模块包括校正系数确定单元和能谱确定单元；

所述校正系数确定单元用于基于所述校正值确定所述探测器的晶体校正系数；

所述能谱确定单元用于基于所述晶体校正系数，确定所述探测器能谱。

9.如权利要求8所述的系统，所述探测器包括多个晶体；

所述基于所述校正值确定所述探测器的晶体校正系数包括：

对于每个所述晶体，

基于所述校正值确定第一晶体能谱，所述第一晶体能谱表示所述晶体接收的所述辐射光子的计数与对应的所述校正值之间的关系；

获取所述第一晶体能谱上能峰对应的所述能量值及对应的所述校正值；

基于所述能峰对应的所述能量值和对应的所述校正值确定所述晶体校正系数。

10.如权利要求9所述的系统，所述基于所述晶体校正系数，确定探测器能谱包括：

对于每个所述晶体，基于所述晶体校正系数和所述第一晶体能谱确定第二晶体能谱，所述第二晶体能谱表示所述晶体接收的所述辐射光子的能量值与对应的所述辐射光子的计数之间的关系；

基于所述第二晶体能谱确定所述探测器能谱。