[发明专利]一种注入方式测量电子设备波束指向测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 202111332867.3 申请日: 2021-11-11
公开(公告)号: CN114062791B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 罗绍彬;李钊;于鹏;陈树春;任锋;程明;李康;张杰;曹云林 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R31/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 孙元伟
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 注入 方式 测量 电子设备 波束 指向 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种注入方式测量电子设备波束指向测试装置,其特征在于,包括多个衰减器、多个移相器、合路器、频谱仪、稳相电缆、计算机及在计算机中安装有自动测控软件;多个衰减器通过第一稳相电缆与电子设备的射频系统的移相单元端口连接,多个衰减器通过第二稳相电缆与多个移相器分别连接,多个移相器通过第三稳相电缆与合路器连接,合路器通过射频电缆与频谱仪连接,频谱仪通过控制总线与计算机连接,计算机通过控制总线与射频系统连接,所述多个移相器通过控制总线与计算机连接;

在所述自动测控软件中设置有波束指向设置模块、扫描控制机模块、功率计控制模块、波束指向确认模块和比对模块,波束指向设置模块用于实现对被测射频系统的控制完成波束指向的设置;扫描控制机模块用于实现测试波束扫描,完成对各通道移相器的控制;功率计控制模块用于实现功率计控制,根据需要采集功率值;波束指向确认模块用于实现根据不同的波位功率值,找到最大的值,确定实际波束指向;比对模块用于实现原被测射频系统的控制设置波束指向与实际波束指向进行对比,得到波束指向误差。

2.根据权利要求1所述的注入方式测量电子设备波束指向测试装置,其特征在于,所述衰减器用于根据电子设备单通道输出功率对单通道输出功率衰减,衰减后达到移相器能承受适中的功率值。

3.根据权利要求1所述的注入方式测量电子设备波束指向测试装置,其特征在于,所述移相器用于完成射频信号的相位转换。

4.根据权利要求1所述的注入方式测量电子设备波束指向测试装置,其特征在于,所述合路器用于完成对多路输入的射频信号进行合路输出,送入功率计进行功率值采集。

5.根据权利要求2所述的注入方式测量电子设备波束指向测试装置,其特征在于,所述频谱仪用于接收自动测控软件的控制命令,进行射频信号功率值和频率值的测量。

6.一种基于权利要求1~5任一所述注入方式测量电子设备波束指向测试装置的实现方法,其特征在于,所述自动测控软件在计算机中运行时,包括如下步骤:

S1,软件进行仪器设备初始化;

S2,软件控制被测系统上电及被测射频系统波束指向设置,包括指向测试波位号设置为Y0~Yn;

S3,延时时间T,判断发射允许准备好后,开辐射;

S4,进行波位测试,设置波位号为A0~An,按波位号顺序进行,设置波位就绪后,读取功率计数值并进行记录;

S5,判断当前波位号是否为最后一个波位,如果不是则返回步骤S4,如果是最后一个波位,则进入下一步;

S6,将记录下来的各波位的功率值进行比较计算,找到功率最大值确定为波束指向波位号,记录保存当前波位号A0~An及功率值和频率值;

S7,判断当前波束指向测试波位号是否为最后一个,如果不是则返回步骤S2,如果是最后一个波位,则进入步骤S8;

S8,保存测试数据及关闭辐射。

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