[发明专利]一种电机绕组铜耗计算的方法、系统或装置在审
申请号: | 202111333839.3 | 申请日: | 2021-11-11 |
公开(公告)号: | CN114036793A | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 樊英;陈秋蒴 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F17/11;H02K3/28 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 童杨益 |
地址: | 210096 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电机 绕组 计算 方法 系统 装置 | ||
本发明属于电机领域,公开了一种电机绕组铜耗计算的方法、系统或装置,包括以下步骤:将电机的任意定子槽型转化为面积相等的矩形槽;绕组进行重新分布,使得除顶层的定子槽外,其余各层的定子槽放置的绕组个数相等,余出的绕组放置在顶层的定子槽内;获取绕组进行重新分布后的每层定子槽的有功功率;有功功率中代入趋肤效应因子和邻近效应因子,形成对每一层的定子槽绕组铜耗的解析模型,每一层的定子槽绕组铜耗的解析模型叠加,获得电机绕组的总损耗模型,从而获得整个电机绕组的铜耗;无需精确建模的同时,快速准确的预测绕组铜耗,从而提升预测电机效率的准确度。
技术领域
本发明属于一种电机绕组铜耗计算的方法、系统或装置,属于电 机领域。
背景技术
在电机的初始设计中,需要计算铜耗对于电机效率的影响,但是 铜耗的计算较为复杂并且导体之间的相互影响很难解释清楚,对于 分布式绕组来说,其跨距较大,端部对于导体的影响加重,电机绕 组的铜损耗将会增加,从而进一步导致温升加剧,电机效率降低, 并可能导致永磁体发生不可逆退磁。所以需要建立一套快速精准的 预测铜耗的方法。
在现有的计算铜耗的方法中,通常采用有限元法和解析法。以有 限元法计算铜耗,虽然结果较为准确,但是建模要求精度高,并且 耗时长,很难快速得到结果。相比之下,解析法更加灵活,但由于 其计算条件过于理想,其准确度又达不到要求。
发明内容
第一方面,本发明所要解决的技术问题是提供一种电机绕组铜耗 计算的方法,在无需精确建模的同时,快速准确的预测绕组铜耗, 从而提升预测电机效率的准确度。
本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案
一种电机绕组铜耗计算的方法,包括以下步骤:
将电机的任意定子槽型转化为面积相等的矩形槽;
绕组进行重新分布,使得除顶层的定子槽外,其余各层的定子槽 放置的绕组个数相等,余出的绕组放置在顶层的定子槽内;
获取绕组进行重新分布后的每层定子槽的有功功率;
有功功率中代入趋肤效应因子和邻近效应因子,形成对每一层的 定子槽绕组铜耗的解析模型,每一层的定子槽绕组铜耗的解析模型 叠加,获得电机绕组的总损耗模型,从而获得整个电机绕组的铜耗。
在一些公开中,将电机的任意定子槽型转化为面积相等的矩形槽 通过保形映射法实现。
在一些公开中,获取绕组进行重新分布后的每层定子槽的有功功 率,包括:根据安培环路定律,得出每一层的定子槽电磁场强度, 利用坡印廷定理,获得流入封闭体积的复功率,将复功率分解出每 一层的定子槽的有功功率。
在一些公开中,分层的每一层的定子槽绕组视为一条电磁环路, 并根据安培环路定律,得出第k+1层绕组的磁场强度,为:
式中,是磁场强度的;是k层及以下的总磁场强度;是第k+1层的磁场强度;Jz是电流密度;kk+1是第k+1层绕组的槽 满率;是第k层及以下层的总电流;
利用修正复涡流方程,可将磁场强度式化为一个二阶微分方程, 可用下式进行表示:
Hx=c1e-ty+c2ety
式中,c1,c2分别为常微分系数,可代入绕组的边界条件,进行求 解;其中,t函数的表达式如下所示:
式中,ω是角频率;μ0是真空磁导率;σ是电导率;kk+1是k+1 层的槽满率;
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