[发明专利]设备检测方法、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111334950.4 申请日: 2021-11-11
公开(公告)号: CN114066723A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 刘威 申请(专利权)人: 贝壳找房(北京)科技有限公司
主分类号: G06T3/00 分类号: G06T3/00;G06T7/50;G06T7/80
代理公司: 北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657 代理人: 王晓多
地址: 100085 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 设备 检测 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种设备检测方法,其特征在于,所述设备包括数据采集部件和旋转部件,所述数据采集部件包括图像采集部件,所述方法包括:

按照设定采集轨迹,控制所述数据采集部件采集不同方向的原始数据,所述原始数据包括图像,所述设定采集轨迹用于指定采集原始数据的设定起点、设定终点,以及所述设定起点和所述设定终点之间的转动轨迹,所述设定起点和所述设定终点的设定位置相同;

基于所采集的起点图像和终点图像的差异程度,确定所述旋转部件的旋转精度,所述起点图像为所述图像采集部件在所述设定起点采集的图像,所述终点图像为所述图像采集部件在所述设定终点采集的图像;

基于所采集的不同方向的原始数据、原始数据对应的旋转角度和设备标定参数,确定所述设备标定参数的精度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述数据采集部件包括深度采集部件,所述原始数据包括深度数据,所述深度采集部件用于采集所述深度数据;

基于所采集的不同方向的原始数据、原始数据对应的旋转角度和设备标定参数,确定所述设备标定参数的精度,包括:

基于所采集的不同方向的图像、图像对应的旋转角度和设备标定参数,确定全景图,基于所述全景图,确定所述设备标定参数的精度;

和/或,

基于旋转角度、所述深度数据和所述设备标定参数,确定三维点云,基于所述三维点云,确定所述设备标定参数的精度。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所采集的不同方向的图像、图像对应的旋转角度和设备标定参数,确定全景图,基于所述全景图,确定所述设备标定参数的精度,包括:

将所述不同方向的图像按照对应的旋转角度投影到柱面全景图,得到对应的全景局部图;

对所述全景图局部图进行中值滤波处理和边缘保持滤波处理,得到对应的局部纹理图像;

将所述局部纹理图像按照对应的旋转角度生成全景图;

统计所述全景图中至少一条拼接线两侧的相邻像素中非零像素的个数,以及所述至少一条拼接线两侧的非零像素不相等的个数;

计算所述非零像素不相等的个数与所述非零像素的个数的比值;

在所述比值大于第一设定阈值时,判定所述设备标定参数的精度不满足设定条件。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于旋转角度、所述深度数据和所述设备标定参数,确定三维点云,基于所述三维点云,确定所述设备标定参数的精度,包括:

将所述深度数据按照旋转角度和所述设备标定参数进行融合,得到所述三维点云;

按照所述三维点云中点的法向量的朝向,基于最小二乘法进行拟合处理,得到至少一个点云集合;

从所述至少一个点云集合中确定参考点云集合,所述参考点云集合的法向量与设备旋转轴的夹角最小;

以所述设备旋转轴与所述参考点云集合的交点为起点,确定出所述参考点云集合中参考直线,所述参考直线为所述参考点云集合中的最长线段所在直线;

计算所述参考点云集合中位于参考平面上的点构成的两条线段的线段夹角,所述参考平面为所述参考直线和所述设备旋转轴构成的平面,所述两条线段由所述参考点云集合和所述参考平面上位于所述旋转轴两侧的点分别构成;

在所述线段夹角大于设定夹角阈值时,判定所述设备标定参数的精度不满足设定条件。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所采集的起点图像和终点图像的差异程度,确定所述旋转部件的旋转精度,包括:

对所述起点图像和所述终点图像分别进行高斯核卷积运算,得到高斯起点图像和高斯终点图像;

对所述高斯起点图像和所述高斯终点图像逐像素做减法运算,得到差异图像;

计算所述差异图像中非零像素的像素绝对值之和的像素均值;

在所述像素均值大于第二设定阈值时,计算所述起点图像和所述终点图像中像素块的坐标偏移量的偏移量均值;

在所述偏移量均值大于第三设定阈值时,判定所述旋转部件的旋转精度不满足设定条件。

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