[发明专利]一种激光探伤装置及激光探伤方法

说明书

本申请实施例公开了一种激光探伤装置，属于无损探伤技术领域，第一激光器用于产生脉冲激光；第二激光器用于产生连续激光；第一分光件用于将连续激光分解为连续测量激光和连续对比激光；测量光路调节回路用于接收连续测量激光以及调整连续测量激光的光路；对比光路调节回路用于接收连续对比激光以及调整连续对比激光的光路；探测组件；其中，脉冲激光用于扫描被测物表面用于引起被测物同频振动；连续测量激光用于扫描被测物表面，且在叠加被测物的振动后形成连续反射激光，被测物反射连续反射激光；连续反射激光与连续对比激光发生干涉形成干涉激光，探测组件用于接收干涉激光的光强并转换为电信号，其能够探测被测物表面以及内部的缺陷。

技术领域

本申请涉及无损探伤技术领域，尤其涉及一种激光探伤装置及激光探伤方法。

背景技术

无损探伤就是利用声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷的大小、位置、性质和数量等信息，进而判定被检对象所处技术状态（如合格与否、剩余寿命等）的所有技术手段的总称，是一种对材料或工件实施一种不损害或不影响其未来使用性能或用途的检测手段。

在相关的技术领域中，目前用于非接触无损探伤的方法主要有两种，一种是射线照相法；另一种是超声波检测。但是上述两种方法对表面下的微小气泡和表面下的瑕疵探测能力不够。

发明内容

本申请实施例提供一种激光探伤装置及激光探伤方法，其能够探测被测物表面以及内部的缺陷。

第一方面，本申请实施例提供了一种激光探伤装置，包括：

第一激光器，用于产生脉冲激光；

第二激光器，用于产生连续激光；

第一分光件，位于所述第二激光器的出射端，且位于所述第二激光器的轴线上，用于将所述连续激光分解为连续测量激光和连续对比激光；

测量光路调节回路，用于接收所述连续测量激光以及调整所述连续测量激光的光路；

对比光路调节回路，用于接收所述连续对比激光以及调整所述连续对比激光的光路；

探测组件；

其中，所述脉冲激光用于扫描被测物表面用于引起被测物同频振动；所述连续测量激光用于扫描被测物表面，且在叠加被测物的振动后形成连续反射激光，被测物反射所述连续反射激光；所述连续反射激光与所述连续对比激光发生干涉形成干涉激光，所述探测组件用于接收所述干涉激光的光强并转换为电信号。

基于本申请实施例的激光探伤装置，第一激光器产生脉冲激光对被测物表面进行扫描，使被测物产生与脉冲激光相同频率的振动，但是，若被测物的表面和/或内部存在缺陷时，被测物存在缺陷处的振动频率将与脉冲激光的频率不同；第二激光器产生连续激光后由第一分光件接收并被第一分光件分解为连续测量激光和连续对比激光，其中，连续测量激光经过测量光路调节回路改变光路照射至被测物表面对被测物表面进行扫描，此时，被测物产生的振动将叠加至连续测量激光引起连续测量激光的频率发生变化形成连续反射激光，且被测物将反射连续反射激光，测量光路调节回路接收连续反射激光；连续对比激光经由对比光路调节回路改变光路与连续反射激光发生干涉产生干涉激光，最后，由探测组件接收干涉激光的光强并转换为电信号，因此，本申请将被测物的振动频率叠加至连续反射激光并由连续反射激光带回探伤装置实现对被测物信息的收集，随后连续反射激光与连续对比激光发生干涉形成干涉激光后，由探测组件接收干涉后的光强并转换为电信号输出，该干涉信号会反应被测物表面及内部的缺陷，以实现对被测物表面以及内部缺陷的探测。

在本申请的一些实施例中，所述测量光路调节回路包括：

第一光路方向转变件，用于接收所述第一分光件出射的所述连续测量激光以及改变所述连续测量激光的光路；