[发明专利]极片干燥参数的确定方法在审
申请号: | 202111345998.5 | 申请日: | 2021-11-12 |
公开(公告)号: | CN114235873A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 宋小明;龙隽;刘星;冯志博;那秀辉;李海军 | 申请(专利权)人: | 银隆新能源股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251;G01N23/20091 |
代理公司: | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人: | 刘敏;杜欣 |
地址: | 519041 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 干燥 参数 确定 方法 | ||
1.一种极片干燥参数的确定方法,其特征在于,所述方法包括:
获取多组测试干燥参数;
在每组测试干燥参数下,进行预设成分的涂布的干燥处理,获得干燥后的极片;
利用能谱分析技术获取每组测试干燥参数下所述极片的能谱数据;
基于所述能谱数据,确定所述预设成分的涂布的最优干燥参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试干燥参数包括干燥温度和干燥风频率;所述获取多组测试干燥参数包括:
获取预设成分的涂布的适宜温度范围和适宜风频率范围;
基于所述适宜温度范围和所述适宜风频率范围,按照预设规则,设置多组测试干燥参数,每组所述测试干燥参数包括干燥温度和干燥风频率。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,当用于干燥所述涂布的烘箱为多节时,每组所述测试干燥参数包括多个干燥温度和多个干燥风频率;所述基于所述适宜温度范围和所述适宜风频率范围,按照预设规则,设置多组测试干燥参数包括:
基于所述适宜温度范围和所述适宜风频率范围,确定一组比对测试干燥参数,所述比对测试干燥参数包括用于在烘箱不同位置处进行控制的多个干燥温度和用于在烘箱不同位置处进行控制的多个干燥风频率;
基于所述比对测试干燥参数,根据梯度比对规则改变所述比对测试干燥参数中的至少一个干燥温度,或者改变所述比对测试干燥参数中的至少一个干燥风频率,获得多组对照测试干燥参数;
将所述比对测试干燥参数和所述对照测试干燥参数作为所述测试干燥参数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在每组测试干燥参数下,进行预设成分的涂布的干燥处理,获得干燥后的极片包括:
获取预设成分的浆料和集流体;
将所述预设成分的浆料涂覆于所述集流体上;
对不同位置处的烘箱按照每组测试干燥参数进行设置,将涂覆有浆料的集流体依次经过设置后的每节烘箱进行干燥;
干燥完毕后,获得每组测试干燥参数下干燥后的极片。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取预设成分的浆料包括:
获取预设数量的粘结剂;
将所述粘结剂按照预设规则进行稀释;
在稀释后的粘结剂中加入预设数量的导电剂和预设数量的涂布主材,获得预设成分的浆料。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述集流体包括铝箔或者铜箔。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用能谱分析技术获取每组测试干燥参数下所述极片的能谱数据之前,所述方法还包括:
将每组测试干燥参数下干燥后的极片裁剪为预设大小的测试小片;
利用氩离子抛光切割机对每组测试小片进行切割处理,获得每组测试小片的待测截面;
所述利用能谱分析技术获取每组测试干燥参数下所述极片的能谱数据,包括:
利用能谱分析技术获取每组测试小片的待测截面的能谱数据。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述利用能谱分析技术获取每组测试小片的待测截面的能谱数据包括:
按照距离集流体的远近程度,将每组测试小片的待测截面划分为多个子区域;
利用能谱分析技术获取每组测试小片每个子区域的能谱数据。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述利用能谱分析技术获取每组测试小片的待测截面的能谱数据包括:
利用能谱分析技术获取每组测试小片每个子区域的碳元素质量分数和氟元素质量分数;
所述基于所述能谱数据,确定所述预设成分的涂布的最优干燥参数包括:
基于所述碳元素质量分数和所述氟元素质量分数,确定所述预设成分的涂布的最优干燥参数。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述基于所述碳元素质量分数和所述氟元素质量分数,确定所述预设成分的涂布的最优干燥参数包括:
将距离集流体最近的那个子区域中碳元素质量分数和氟元素质量分数最高的那组测试小片所对应的测试干燥参数,作为所述预设成分的涂布的最优干燥参数。
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