[发明专利]电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质在审
申请号: | 202111357171.6 | 申请日: | 2021-11-16 |
公开(公告)号: | CN114545096A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 佐藤俊弥;林达也 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁 环境 分析 系统 方法 存储 介质 | ||
在本发明的电磁环境分析系统中,图像制作部在与各测定值的测定位置相对应的位置制作显示测定值相关的信息的图像。设定多个区划。区划判定部基于上述位置信息,判定在上述图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划中的与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定区划的显示相关的信息。显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时,根据两个以上的测定值运算代表值,并基于代表值确定在区划中显示的信息。
技术领域
本发明涉及电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质。
背景技术
已知有分析电磁环境的装置。例如,日本特开2013-238581号公报公开了一种装置,其获取与电磁环境相关的测定值,并显示与测定值相关的信息。该装置使与获取的测定值相关的信息与区分了显示范围的多个区划相对应,并针对每个区划显示与测定值相关的信息。
发明内容
电磁环境的分析在各种用途中进行。例如,在电子设备的EMC(electromagneticcompatibility)试验中,分析从设备的哪里产生了电磁波。在专利文献1记载的装置中,通过使传感器移动来测定从被测定对象物产生的信号。测定到的测定值根据测定了测定值的位置,与区分显示部的显示范围的多个区划分别相关联。测定结果通过基于每个区划的测定值的颜色来表示。
在该情况下,如果针对每个区划进行测定,则因为测定值和区划成为一对一的关系,所以针对每个区划没有问题的进行测定结果的显示。但是,为了使进行测定的时刻和进行测定的位置同步,需要各种的复杂的控制,装置结构也复杂化。考虑测定误差,在一个区划中想要进行多次测定这一需要也存在。
本发明的一个方式的目的在于,提供一种一边抑制装置结构的复杂化,一边能够针对每个区划显示更适当的测定结果的电磁环境分析系统。本发明的其它方式的目的在于,提供一种能够针对每个区划简单地显示更适当的测定结果的电磁环境分析方法。本发明另一方式的目的在于提供一种能够针对每个区划简单地显示更适当的测定结果的储存有程序的计算机能够读取的存储介质。
本发明的一个方式的电磁环境分析系统具备测定信息获取部、位置信息获取部、以及图像制作部。测定信息获取部获取与电磁环境相关的多个测定值。位置信息获取部获取与测定各测定值的测定位置相关的位置信息。图像制作部制作在与各测定值的测定位置相对应的位置显示与测定值相关的信息的图像。图像制作部包含区划判定部和显示信息确定部。区划判定部基于上述位置信息,判定在上述图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划中与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定与区划的显示相关的信息。显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时,根据两个以上的测定值对代表值进行运算,并基于代表值确定与区划的显示相关的信息。
在该电磁环境分析系统中,当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时,根据两个以上的测定值对代表值进行运算,并基于代表值确定与区划的显示相关的信息。这样,电磁环境分析系统进行代表值的运算和基于代表值的显示信息的确定这样的两阶段的处理,因此,即使在一个区划存在多个测定值的情况下,也能够针对每个区划显示适当的测定结果。例如,即使测定值不是与进行测定的时刻和进行测定的位置同步获取,尽管在一个区划进行多次的测定,也针对每个区划显示适当的测定结果。
在上述一个方式中,也可以是,测定信息获取部获取与各测定值对应的附加信息。附加信息也可以包含与电磁波的强度相关的信息、与电磁波的相位相关的信息、与电磁波的频率成分相关的信息、及与进行测定的时刻相关的信息中的至少一个。显示信息确定部也可以基于附加信息根据两个以上的测定值对代表值进行运算。在该情况下,可以根据两个以上的测定值对更适当的代表值进行运算。
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