[发明专利]测试板

说明书

一种测试板，包括电路板、连外端口与多个同轴射频连接器组。连外端口设于电路板上。同轴射频连接器组各包括上同轴射频连接器及下同轴射频连接器。上同轴射频连接器及下同轴射频连接器分别同轴设置于电路板的上表面与下表面并分别与连外端口电性连接。

技术领域

本发明是有关一种测试板，更明确地说，是一种包括多个射频连接器的测试板（又称测试治具）。

背景技术

一般而言，具有同轴射频连接器的习知测试板的结构俯视图如图1所示，习知测试板200的电路板210设有端口220与多个同轴射频连接器230。同轴射频连接器230设置于电路板210的上下表面，且在同一表面上的同轴射频连接器230相对于端口220的位置大致沿半径R的圆周排列。此外，分别在电路板210上下表面的同轴射频连接器230彼此错开互不重叠，例如在电路板210下表面的同轴射频连接器（未绘示）与图1导线的一端位置对应，由图可见，其上、下层分别包括6个及4个同轴射频连接器230，共十个。在使用时，产品可连接于端口220，并将量测装置连接于同轴射频连接器230，以执行讯号完整性测试。

为了提升电路板210上的同轴射频连接器230的密度，传统作法可将螺丝设置在由同轴射频连接器230的端头覆盖的位置以减小基座的尺寸，使电路板210可设置更多的同轴射频连接器230。然而，上述效果有限，且同轴射频连接器230至端口220的布线长，导致讯号损失大，使量测精度难以提升。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种可以解决上述问题的测试板。

为了达到上述目的，根据本发明的一些实施方式，一种测试板包括电路板、连外端口与多个同轴射频连接器组。连外端口设于电路板上。同轴射频连接器组各包括上同轴射频连接器及下同轴射频连接器。上同轴射频连接器及下同轴射频连接器分别同轴设置于电路板的上表面与下表面并分别与连外端口电性连接。

在一些实施方式中，上述测试板更包括第一连接机件。上同轴射频连接器及下同轴射频连接器各具有端头。端头与第一连接机件沿电路板延伸方向的最短直线距离大于零。

在一些实施方式中，上述测试板更包括第二连接机件。上同轴射频连接器及下同轴射频连接器同时利用第一连接机件及第二连接机件而分别锁附于电路板的上表面与下表面。

在一些实施方式中，上述上同轴射频连接器及下同轴射频连接器皆具有穿孔与螺孔。第一连接机件穿过上同轴射频连接器的穿孔而锁附于下同轴射频连接器的螺孔中，第二连接机件穿过下同轴射频连接器的穿孔而锁附于上同轴射频连接器的螺孔中。

在一些实施方式中，上述上同轴射频连接器及下同轴射频连接器其中一者具有第一穿孔与第二穿孔，另一者具有第一螺孔与第二螺孔。第一连接机件穿过第一穿孔而锁附于第一螺孔中，第二连接机件穿过第二穿孔而锁附于第二螺孔中。

在一些实施方式中，上述连外端口与上同轴射频连接器、下同轴射频连接器之间的埋线距离差异不大于百分之一。

在一些实施方式中，上述上同轴射频连接器至少其中一者与连外端口的最短直线距离大于其余上同轴射频连接器与连外端口的最短直线距离。

在一些实施方式中，上述电路板上的上同轴射频连接器为扇形排列，且离连外端口最远的上同轴射频连接器的位置未超过电路板的一半。

在一些实施方式中，上述上同轴射频连接器的基座的两侧的最远距离为V。电路板上的上同轴射频连接器中离连外端口最远的一者的中心轴和连外端口的距离为K，且K小于3V。

在一些实施方式中，上述上同轴射频连接器的基座的两侧的最远距离为V。电路板上的上同轴射频连接器中离连外端口最近的一者的中心轴和连外端口的距离为K，且K小于2.5V。