[发明专利]数据库测试方法、装置、介质与电子设备在审
申请号: | 202111372132.3 | 申请日: | 2021-11-18 |
公开(公告)号: | CN114064435A | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 兰芳 | 申请(专利权)人: | 京东科技信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王辉;阚梓瑄 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据库 测试 方法 装置 介质 电子设备 | ||
本公开提供了一种数据库测试方法、装置、介质与电子设备,涉及计算机技术领域。所述数据库测试方法包括:向数据库服务器中预先创建的测试数据库发送多个数据操作请求;接收所述数据库服务器响应于每个所述数据操作请求返回的请求处理结果;根据所述测试数据库中的数据操作结果,以及多个所述请求处理结果中的第一请求处理结果,确定所述数据库服务器的第一性能指标值;根据多个所述请求处理结果中的第二请求处理结果,确定所述数据库服务器的第二性能指标值。本公开提供的数据库测试方案,提高了确定的数据库服务器性能的精准度。
技术领域
本公开涉及计算机领域,尤其涉及一种数据库测试方法、数据库测试装置、计算机存储介质和电子设备。
背景技术
随着互联网技术的发展,互联网中设备产生的数据越来越多,为了便于数据的管理,数据库应运而生。
数据库可以以数据库服务器为硬件载体对数据进行管理,数据库服务器在投入使用时,可以对数据库服务器的运行状态进行测试,以确定数据库服务器的服务性能。
相关技术中,在对数据库服务器进行测试过程中,由于测试指标比较单一,导致测试结果的精准度较低。
发明内容
本公开提供了一种数据库测试方法、数据库测试系统、计算机可读存储介质与电子设备,进而提高确定的数据库服务其性能的精确度。
根据本公开的第一方面,提供一种数据库测试方法,所述方法包括:
向数据库服务器中预先创建的测试数据库发送多个数据操作请求;
接收所述数据库服务器响应于每个所述数据操作请求返回的请求处理结果;
根据所述测试数据库中的数据操作结果,以及多个所述请求处理结果中的第一请求处理结果,确定所述数据库服务器的第一性能指标值,所述第一请求处理结果指示所述数据库服务器成功响应所述数据操作请求;
根据多个所述请求处理结果中的第二请求处理结果,确定所述数据库服务器的第二性能指标值,所述第二请求处理结果指示所述数据库服务器未成功响应所述数据操作请求。
根据本公开的第二方面,提供一种数据库测试装置,所述装置包括:
发送模块,被配置为向数据库服务器中预先创建的测试数据库发送多个数据操作请求;
接收模块,被配置为接收所述数据库服务器响应于每个所述数据操作请求返回的请求处理结果;
第一确定模块,被配置为根据所述测试数据库中的数据操作结果,以及多个所述请求处理结果中的第一请求处理结果,确定所述数据库服务器的第一性能指标值,所述第一请求处理结果指示所述数据库服务器成功响应所述数据操作请求;
第二确定模块,被配置为根据多个所述请求处理结果中的第二请求处理结果,确定所述数据库服务器的第二性能指标值,所述第二请求处理结果指示所述数据库服务器未成功响应所述数据操作请求。
根据本公开的第三方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现第一方面的方法。
根据本公开的第四方面,提供一种电子设备,包括:
处理器;以及
存储器,用于存储处理器的可执行指令;
其中,处理器配置为经由执行可执行指令来执行第一方面的方法。
本公开的技术方案具有以下有益效果:
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