[发明专利]一种机电耦合的电容式加速度传感器有效

专利信息
申请号: 202111373866.3 申请日: 2021-11-19
公开(公告)号: CN113933540B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 张剑瑜;唐彬;刘猛;黄健树 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: G01P15/125 分类号: G01P15/125;G01P15/08
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 任正平
地址: 621999*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 机电 耦合 电容 加速度 传感器
【权利要求书】:

1.一种机电耦合的电容式加速度传感器,其特征在于,该传感器整体呈现上下对称结构,包括上盖板(1)、敏感单元(2)和下盖板(3);其中,所述上盖板(1)由电容上极板(4)、上盖板氧化层(6)和上盖板介电屏蔽层(8)三部分依次层叠组成,下盖板(3)由下盖板介电屏蔽层(9)、下盖板氧化层(7)和电容下极板(5)三部分依次层叠组成,所述上盖板(1)与敏感单元(2)之间、敏感单元(2)与下盖板(3)之间分别通过键合连接在一起,形成多层结构;敏感单元(2)由敏感单元框架(14)、敏感质量块(15)和悬臂梁(16)组成;敏感质量块(15)的一端与悬臂梁(16)相连,组成敏感单元(2)的可动部分;敏感单元框架(14)和盖板的介电屏蔽层连接,实现敏感单元(2)与上盖板(1)、下盖板(3)的连接;上盖板(1)内的电容上极板(4)和敏感质量块(15)的上表面分别作为上电容的上极板、上电容的下极板,上盖板(1)内的电容上极板(4)和敏感质量块(15)的上表面之间形成上电容间隙(12);敏感质量块(15)的下表面和下盖板(3)内的电容下极板(5)分别作为下电容的上极板、下电容的下极板,下盖板(3)内的电容下极板(5)和敏感质量块(15)的下表面之间形成下电容间隙(13)。

2.根据权利要求1所述机电耦合电容式加速度传感器,其特征在于:所述上盖板(1)为SOI结构加工而成,上盖板介电屏蔽层(8)为SOI结构中的单晶硅结构层;所述下盖板(3)为SOI结构加工而成,下盖板介电屏蔽层(9)为SOI结构中的单晶硅结构层。

3.根据权利要求1或2所述机电耦合电容式加速度传感器,其特征在于:所述上盖板氧化层(6)、下盖板氧化层(7)的厚度均为500nm。

4.根据权利要求1所述机电耦合电容式加速度传感器,其特征在于:所述敏感质量块(15)、悬臂梁(16)和敏感单元框架(14)均采用单晶硅材料通过微纳工艺制备而成。

5.根据权利要求1所述机电耦合电容式加速度传感器,其特征在于:所述敏感单元框架(14)的边框部分(17)采用单晶硅材料制备而成,其设有台阶部分(18)。

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