[发明专利]方法、传感器控制器及电子设备在审
申请号: | 202111384840.9 | 申请日: | 2021-11-22 |
公开(公告)号: | CN114546155A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 门胁淳;谢政良;郎崇年 | 申请(专利权)人: | 株式会社和冠 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/0354 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 任天诺;高培培 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 方法 传感器 控制器 电子设备 | ||
1.一种方法,是由对包含发送信号的1个以上的电极的笔的坐标进行检测的传感器控制器执行的方法,其中,包括:
第一扫描步骤,在并列配置的多个基准位置中的3个以上的第一基准位置的各自处执行检测从所述1个以上的电极中的正与面板面接触的电极发送出的信号的动作,所述3个以上的第一基准位置是能够根据在第一范围中包含的传感器电极群处检测的所述信号来检测信号电平的基准位置;
第二扫描步骤,在所述多个基准位置中的3个以上的第二基准位置的各自处执行检测从所述1个以上的电极中的未与面板面接触的电极发送出的信号的动作,所述3个以上的第二基准位置是能够根据在比所述第一范围大的第二范围中包含的传感器电极群处检测的所述信号来检测信号电平的基准位置;
第一导出步骤,基于在所述第一扫描步骤中检测到的所述信号在所述3个以上的第一基准位置各自处的信号电平来导出坐标;及
第二导出步骤,基于在所述第二扫描步骤中检测到的所述信号在所述3个以上的第二基准位置各自处的信号电平来导出坐标。
2.根据权利要求1所述的方法,
正与所述面板面接触的电极是设置于所述笔的前端的前端电极,
未与所述面板面接触的电极是与所述前端电极相比设置于所述笔的后端侧的后端电极,
所述传感器控制器按照由规定的信号收发协议确定的时间表,将从所述前端电极发送出的信号的基于所述第一扫描步骤的检测和从所述后端电极发送出的信号的基于所述第二扫描步骤的检测以分时的方式执行。
3.根据权利要求1所述的方法,
正与所述面板面接触的电极及未与所述面板面接触的电极都是设置于所述笔的前端的前端电极,
所述传感器控制器在由从所述笔接收到的信号中包含的数据表示了所述前端电极正与所述面板面接触的情况下执行所述第一扫描步骤,
所述传感器控制器在由从所述笔接收到的信号中包含的数据表示了所述前端电极未与所述面板面接触的情况下执行所述第二扫描步骤。
4.根据权利要求1所述的方法,
所述传感器控制器在所述第一扫描步骤中检测到的所述信号在所述3个以上的第一基准位置各自处的信号电平中的峰值电平与其他的信号电平之差为规定值以下的情况下,开始所述第二扫描步骤。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的方法,
所述3个以上的第一基准位置的宽度比所述3个以上的第二基准位置的宽度宽。
6.根据权利要求5所述的方法,
所述3个以上的第一基准位置是所述多个基准位置中的连续地配置的基准位置,
所述3个以上的第二基准位置是所述多个基准位置中的离散地配置的基准位置。
7.根据权利要求6所述的方法,
所述3个以上的第二基准位置是在所述多个基准位置中每隔规定数而配置的基准位置。
8.根据权利要求7所述的方法,
所述第二扫描步骤构成为将与在所述第二导出步骤中导出的坐标最接近的基准位置和从该基准位置每隔规定数而配置的2个以上的基准位置选择为所述3个以上的第二基准位置。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的方法,
所述第二扫描步骤通过对在所述第二范围中包含的传感器电极群处检测的所述信号的信号电平进行统计处理来取得所述3个以上的第二基准位置各自处的信号电平。
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