[发明专利]数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202111385289.X 申请日: 2021-11-22
公开(公告)号: CN114116837A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 刘正方;郑灿展;王崇申;桂烜 申请(专利权)人: 深圳市康必达控制技术有限公司
主分类号: G06F16/2458 分类号: G06F16/2458;G06Q50/06;G06F16/28;G06F16/215;G06Q10/06
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人: 钟连发
地址: 518000 广东省深圳市南山区创*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 数据处理 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种数据处理方法,其特征在于,所述方法包括:

获取预设时间段内多个不同时刻对应的电量统计值;

基于所述电量统计值与电量阈值之间的比对结果,确定各个所述电量统计值对应的监测状态;

在所述监测状态为异常时,对所述电量统计值进行数据清洗,得到校正统计值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取预设时间段内多个不同时刻对应的电量统计值,包括:

获取预设时间段内多个不同时刻对应的采集表底值;

按照统计周期确定在前所述采集表底值与在后所述采集表底值之间的差,生成与在前所述采集表底值相同时刻的所述电量统计值;其中,在前所述采集表底值为所述统计周期内首次采集到的所述采集表底值,在后所述采集表底值为所述统计周期内末次采集到的所述采集表底值。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述电量统计值与电量阈值之间的比对结果,确定各个所述电量统计值对应的监测状态,包括:

基于所述预设时间段内全部所述电量统计值,确定均值和方差;

将所述均值与三倍方差的和作为第一阈值;其中,所述电量阈值包括所述第一阈值和第二阈值,所述第二阈值小于所述第一阈值;

在所述电量统计值小于所述第二阈值,或所述电量统计值大于第一阈值时,确定所述电量统计值对应的监测状态为异常。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述监测状态为异常时,对所述电量统计值进行数据清洗,得到校正统计值,包括:

在所述监测状态为异常时,基于异常统计值和相邻统计值确定至少一个异常表底值;其中,所述异常统计值为所述监测状态为异常的所述电量统计值,所述相邻统计值为与所述异常统计值相邻的所述电量统计值,所述异常表底值为与所述异常统计值相关的所述采集表底值;

对所述异常表底值进行补数,得到补数表底值;

利用所述补数表底值对所述异常统计值和所述相邻统计值进行数据清洗,得到相应所述校正统计值。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于异常统计值和相邻统计值,确定至少一个异常表底值,包括:

将与所述异常统计值和所述相邻统计值相关的所述采集表底值作为候选表底值;

对所述多个候选表底值进行二分类,得到分类结果;其中,所述分类结果包括第一数量和第二数量,所述第一数量用于指示第一类别下所述候选表底值的数量,所述第二数量用于指示第二类别下所述候选表底值的数量;

在所述第一数量与所述第二数量的比值大于或等于预设比值时,将所述第二类别下的所述候选表底值作为异常表底值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述多个候选表底值进行二分类,得到分类结果之后,所述方法还包括:

在所述第一数量与所述第二数量的比值小于预设比值时,将数值零赋值给所述异常统计值,得到更新后的所述异常统计值;其中,更新后的所述异常统计值对应的监测状态为正常。

7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对所述异常表底值进行补数,得到补数表底值,包括:

获取所述预设时间段内的聚合数据;

利用所述聚合数据对所述异常表底值进行补数,得到所述异常表底数对应的所述补数表底值。

8.一种数据处理装置,其特征在于,所述装置包括:

获取模块,用于获取预设时间段内多个不同时刻对应的电量统计值;

确定模块,用于基于所述电量统计值与电量阈值之间的比对结果,确定各个所述电量统计值对应的监测状态;

清洗模块,用于在所述监测状态为异常时,对所述电量统计值进行数据清洗,得到校正统计值。

9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

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