[发明专利]非易失存储器的坏块检测方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202111386658.7 | 申请日: | 2021-11-22 |
公开(公告)号: | CN114203252A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 谭四方 | 申请(专利权)人: | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/44 | 分类号: | G11C29/44;G11C29/42;G11C29/32 |
代理公司: | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 非易失 存储器 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种非易失存储器的坏块检测方法,其特征在于,所述方法应用于非易失存储器的坏块检测装置,所述方法包括:
当接收到坏块检测指令时,对待检测非易失存储器进行扫描进行顺序扫描,确定并记录第一坏块;
对所述待检测非易失存储器进行纵向扫描,确定并记录第二坏块;
将所述第一坏块和所述第二坏块标记为坏块,并存储所述坏块的信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对待检测非易失存储器进行扫描进行顺序扫描,确定并记录第一坏块的步骤包括:
按顺序扫描的方式逐一读写所述待检测非易失存储器各个block(块)的每一page(页),将读出内容与写入内容进行比较;
将读出内容与写入内容不一致的page所在的block标记为坏块,并记录所述坏块的信息。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对待检测非易失存储器进行纵向扫描,确定并记录第二坏块的步骤包括:
依次在各个block的第一个page上写入数据,写满所有block的第一个page后,依次在各个block的第二个page上写入数据,如此重复直到写满各个block的每一个page;
按照数据写入的顺序读取所有的数据,并将读取出的数据进行校验,将未通过校验的数据所在的block标记为坏块,并记录所述坏块的信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述按照数据写入的顺序读取所有的数据,并将读取出的数据进行校验,将未通过校验的数据所在的block标记为坏块,并记录所述坏块的信息的步骤包括:
依次读取各个block的第一个page上的数据,读取出所有block的第一个page后,依次读取各个block的第二个page上的数据,如此重复直到读取出各个block的每一个page中的数据;
将读出的数据分别与写入的数据进行对比,若读出的数据与写入的数据不一致,则将对应的block标记为坏块,并记录所述坏块的物理位置信息。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述第一坏块和所述第二坏块标记为坏块,并存储所述坏块的信息步骤之后还包括:
统计所述坏块的数量,当所述坏块的数量超过预设坏块阈值时,发出风险提示。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述第一坏块和所述第二坏块标记为坏块,并存储所述坏块的信息步骤之后还包括:
通过纠正算法对所述待检测非易失存储器进行校验,去除可纠正的坏块标签,并将不可纠正的坏块确定为坏块。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述将所述第一坏块和所述第二坏块标记为坏块,并存储所述坏块的信息步骤之后还包括:
将所述坏块的位置信息映射至所述非易失存储器的预留空间的对应位置,以供在使用过程中将坏块映射至所述空闲位置。
8.一种非易失存储器的坏块检测装置,其特征在于,所述非易失存储器的坏块检测装置包括:
顺序扫描模块,用于当接收到坏块检测指令时,对待检测非易失存储器进行扫描进行顺序扫描,确定并记录第一坏块;
纵向扫描模块,用于对所述待检测非易失存储器进行纵向扫描,确定并记录第二坏块;
存储模块,用于将所述第一坏块和所述第二坏块标记为坏块,并存储所述坏块的信息。
9.一种非易失存储器的坏块检测设备,其特征在于,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上的非易失存储器的坏块检测程序,所述非易失存储器的坏块检测程序被所述处理器运行时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有非易失存储器的坏块检测程序,所述非易失存储器的坏块检测程序被处理器运行时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市德明利技术股份有限公司,未经深圳市德明利技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111386658.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。