[发明专利]信号质量评估方法和装置、计算机设备、计算机可读存储介质在审
申请号: | 202111388495.6 | 申请日: | 2021-11-22 |
公开(公告)号: | CN114170452A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 张军伟;郭燕慧;卞恺慧;黄建新;邹小兵;聂华 | 申请(专利权)人: | 中科可控信息产业有限公司 |
主分类号: | G06V10/75 | 分类号: | G06V10/75;G06K9/62 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 质量 评估 方法 装置 计算机 设备 可读 存储 介质 | ||
1.一种信号质量评估方法,其特征在于,所述方法包括:
获取DQ波形图及与所述DQ波形图对应的DQS波形图;
针对所述DQ波形图,将所述DQS波形图作为参考时钟信号,基于所述DQ波形图生成DQ眼图;
计算所述DQ波形图的参考电平值,根据所述DQ波形图的参考电平值及预设眼图模板参数,在所述DQ眼图中绘制目标眼图模板;
基于所述目标眼图模板与所述DQ眼图之间的位置关系,对所述DQ波形图进行信号质量评估。
2.根据权利要求1所述的信号质量评估方法,其特征在于,所述将所述DQS波形图作为参考时钟信号,基于所述DQ波形图生成DQ眼图,包括:
从所述DQS波形图中获取各波形分界点的横坐标,并计算相邻所述波形分界点的横坐标的差值;
基于所述横坐标的差值,计算所述DQS波形图中的平均波形周期;
根据所述平均波形周期对所述DQ波形图进行重构,生成与所述DQ波形图对应的DQ眼图。
3.根据权利要求2所述的信号质量评估方法,其特征在于,所述根据所述平均波形周期对所述DQ波形图进行重构,生成与所述DQ波形图对应的DQ眼图,包括:
针对所述DQ波形图,根据所述平均波形周期从所述DQ波形图中获取多个目标DQ波形;
将所述多个目标DQ波形进行重叠,生成与所述DQ波形图对应的DQ眼图。
4.根据权利要求1所述的信号质量评估方法,其特征在于,所述DQ波形图包括预设数目个DQ子波形图,所述预设数目个DQ子波形图与预设数目的传输线的DQ信号相对应;所述计算所述DQ波形图的参考电平值,根据所述DQ波形图的参考电平值及预设眼图模板参数,在所述DQ眼图中绘制目标眼图模板,包括:
针对所述DQ波形图内所包括的各DQ子波形图,计算所述DQ子波形图的目标电平值;
计算所述DQ子波形图的目标电平值的均值,将所述均值作为所述DQ波形图的目标电平值;
根据所述DQ波形图的目标电平值及预设眼图模板参数,计算所述目标眼图模板在所述DQ眼图中的顶点的坐标值;
基于所述目标眼图模板在所述DQ眼图中的顶点的坐标值,在所述DQ眼图中绘制目标眼图模板。
5.根据权利要求4所述的信号质量评估方法,其特征在于,所述针对所述DQ波形图内所包括的各DQ子波形图,计算所述DQ子波形图的目标电平值,包括:
获取与各所述DQ子波形图对应的DQ子信号的信号参数;所述信号参数包括DDR工作电压、输入高电平百分比、低电平百分比及扫描电压步长;
针对所述DQ子波形图的各时钟周期,对高电平至低电平的电压幅值范围内的各电压值,以所述扫描电压步长进行扫描,在所述时钟周期内计算第一时长及第二时长;所述第一时长为所述时钟周期内DQ信号上升沿、DQS信号下降沿与所述DQ子波形图的参考电平值的交叉点之间的时间间隔;所述第二时长为所述时钟周期内DQS信号下降沿、DQ信号下降沿与所述DQ子波形图的参考电平值的交叉点之间的时间间隔;所述参考电平值为当前扫描的电压值;
基于各所述电压值下所述第一时长及所述第二时长,计算所述DQ子波形图的目标电平值。
6.根据权利要求5所述的信号质量评估方法,其特征在于,所述基于各所述电压值下所述第一时长及所述第二时长,计算所述DQ子波形图的目标电平值,包括:
计算各所述电压值下所述第一时长及所述第二时长之和的最大值,将所述第一时长及所述第二时长之和的最大值作为所述当前扫描的电压值下的眼宽;
从所述电压幅值范围内的各所述电压值下的眼宽中,确定最大的眼宽;
将与所述最大的眼宽对应的电压值,作为所述DQ子波形图的目标电平值。
7.根据权利要求4所述的信号质量评估方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述预设眼图模板参数,所述预设眼图模板参数包括预设眼图模板的最小眼高、所述预设眼图模板的最小眼宽及预设波形周期。
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