[发明专利]一种功能测试的碳化硅二极管检测设备

说明书

本发明公开了一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，涉及碳化硅二极管技术领域，包括底座和稳固架，所述底座顶部外侧安装有框架，且所述框架两侧均连接有辅助组件，所述底座两侧均设置有输送带，且所述输送带表面安置有限位组件，所述输送带内侧设置有上料组件。本发明通过采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够在输送二极管时将不同能够自动定位二极管，方便其上料过程，并能同一裁剪引脚长度，使其方便不同类型二极管的检测，并通过上料组件转动式的持续性上料，配合检测组件能够实现多组同步测试，提升其测试效率，并通过顶出组件方便对二极管的取出，并配合清废组件能够将不合格的产品取出，提升其产品的合格率。

技术领域

本发明涉及碳化硅二极管技术领域，具体为一种功能测试的碳化硅二极管检测设备。

背景技术

碳化硅二极管，即肖特基二极管是通过金属与N型半导体之间形成的接触势垒具有整流特性而制成的一种属-半导体器件。肖特基二极管的基本结构是重掺杂的N型4H-SiC片、4H-SiC外延层、肖基触层和欧姆接触层，其具有良好的特性，在成品的碳化硅二极管投入市场前需要对其进功能性检测，保证产品具有良好的合格率。

市场上的碳化硅二极管检测设备由于碳化硅二极管有不同的类型，使得其引脚长短各有不同，使得检测时就容易导致引脚过长时与检测台接触过度引起引脚的折弯，不方便插入检测使用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，包括底座和稳固架，所述底座顶部外侧安装有框架，且所述框架两侧均连接有辅助组件，所述底座两侧均设置有输送带，且所述输送带表面安置有限位组件，所述输送带内侧设置有上料组件，所述辅助组件包括滑轨、气动滑块、辅助架、红外距离传感器、气动剪刀和双目检测摄像头，且所述滑轨内部安装有所述气动滑块，所述气动滑块另一端连接有所述辅助架，且所述辅助架内部连接有所述红外距离传感器，所述辅助架内部右侧安置有所述气动剪刀，所述双目检测摄像头安装于所述框架内侧下方，所述稳固架安装于所述底座顶部中心位置，且所述稳固架表面开设有沟槽，所述稳固架内部安装有检测台，且所述检测台底部连接有调节电机。

进一步的，所述限位组件包括基座、伺服马达、阻尼夹持台、安置弹簧、夹持块和卡板，所述基座内部安装有所述伺服马达，且所述伺服马达输出端连接有所述阻尼夹持台，所述阻尼夹持台内部安装有所述安置弹簧，且所述安置弹簧另一端连接有所述夹持块，所述卡板安装于所述阻尼夹持台顶部。

进一步的，所述阻尼夹持台通过所述伺服马达与所述基座构成旋转连接，且所述伺服马达转动角度为°，而且所述卡板关于所述阻尼夹持台的中心位置对称分布，并且所述卡板表面呈内凹状。

进一步的，所述上料组件包括上料架、步进电机、定位架、小型推杆、定位板、电子伸缩杆和抓取吸盘，且所述上料架一侧连接有步进电机，所述上料架内壁安装有所述定位架，且所述定位架两侧均连接有所述小型推杆，所述小型推杆输出端连接有所述定位板，所述电子伸缩杆安装于所述定位架表面中心位置，且所述电子伸缩杆输出端连接有所述抓取吸盘。

进一步的，所述定位架关于所述上料架的内壁呈等距离圆周状分布，且所述定位板与所述定位架的延长线呈平行状分布，而且所述定位板呈L状结构。

进一步的，所述检测台表面安装有检测组件，且所述检测组件包括检测架、电路板、电源、电阻件、连接座、插槽和弹性导件，所述检测架内部安装有电路板，且所述电路板表面焊接有电源，所述电源右侧上下方设置有所述电阻件，且所述电源右侧对应位置设置有所述连接座，所述连接座顶部开设有插槽，且所述连接座内壁安装有弹性导件。

进一步的，所述弹性导件通过所述连接座与所述所述电路板相互连通，且所述弹性导件与所述连接座弹性连接，而且所述电阻件共设有两组且阻值均不同。