[发明专利]检测设备缺陷类型的方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种检测设备缺陷类型的方法，其特征在于，包括：

采集待检测设备在运行过程中产生的多种气体；

从所述多种气体中确定二氧化碳气体的第一含量以及四氟化碳气体的第二含量；

根据所述第一含量和所述第二含量，确定所述待检测设备的缺陷类型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采集待检测设备在运行过程中产生的多种气体，包括：

按照预设频率采集所述待检测设备在对目标气体进行分解过程中所产生的多种气体；

记录采集所述多种气体时的多个采集时间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在根据所述第一含量和所述第二含量，确定所述待检测设备的缺陷类型之前，所述方法还包括：

根据所述多个采集时间，确定多个所述第一含量以及多个所述第二含量；

对多个所述第一含量进行积分计算，得到多个第一积分值；

对多个所述第二含量进行积分计算，得到多个第二积分值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一含量和所述第二含量，确定所述待检测设备的缺陷类型，包括：

根据所述多个第一积分值以及所述多个第二积分值，确定多个积分比值；

根据所述多个积分比值确定所述待检测设备的缺陷类型。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述多个积分比值确定所述待检测设备的缺陷类型，包括：

当所述多个积分比值处于第一数值区间时，对所述多个积分比值进行排序，得到第一排序结果；

根据所述第一排序结果，确定所述多个积分比值的第一变化趋势；

在所述第一变化趋势满足第一预设条件时，确定所述待检测设备的缺陷类型为第一缺陷类型，其中，所述第一缺陷类型用于表征所述待检测设备中存在使局部电场发生畸变的异常凸起金属物。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述多个积分比值确定所述待检测设备的缺陷类型，包括：

当所述多个积分比值处于第二数值区间时，对所述多个积分比值进行排序，得到第二排序结果；

根据所述第二排序结果，确定所述多个积分比值的第二变化趋势；

在所述第二变化趋势满足第二预设条件时，确定所述待检测设备的缺陷类型为第二缺陷类型，其中，所述第二缺陷类型用于表征所述待检测设备中存在悬浮电位。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述多个积分比值确定所述待检测设备的缺陷类型，包括：

当所述多个积分比值处于第三数值区间时，确定所述待检测设备的缺陷类型为第三缺陷类型，其中，所述第三缺陷类型用于表征所述待检测设备中的至少部分部件的温度异常。

8.一种检测设备缺陷类型的装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于采集待检测设备在运行过程中产生的多种气体；

第一确定模块，用于从所述多种气体中确定二氧化碳气体的第一含量以及四氟化碳气体的第二含量；

第二确定模块，用于根据所述第一含量和所述第二含量，确定所述待检测设备的缺陷类型。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求1至7任一项中所述的检测设备缺陷类型的方法。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现用于运行程序，其中，所述程序被设置为运行时执行所述权利要求1至7任一项中所述的检测设备缺陷类型的方法。