[发明专利]一种基于联合法的设备缺陷检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 202111414557.6 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN114544773A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 汪泽州;陈刚;朱萧轶;姚宝明;鲍建飞;储建新;谢益峰;雷健新;李豹;胡燕伟;潘克勤;孙豪豪;郑涛;陆萍;董子奕;查云杰;张建荣;王建城 申请(专利权)人: 国网浙江省电力有限公司海盐县供电公司
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 314300 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 联合 设备 缺陷 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于联合法的设备缺陷检测方法,其特征在于,包括:

S1、选定探测区域,设置检测参数;

S2、沿探测区域横向移动,通过联合法完成对探测区域的缺陷检测和成像;

S3、沿探测区域纵向移动,通过联合法完成对探测区域的缺陷检测和成像;

S4、将S2和S3的成像结果对比并进行合成,生成最终的缺陷检测图像。

2.根据权利要求1所述的一种基于联合法的设备缺陷检测方法,其特征在于,所述S2中的检测步骤包括:

S21、在某一位置以一定角度向待检测对象内发射超声波;

S22、接收检测对象内反射回来的超声波和衍射回来的超声波,合成图像;

S23、在检测对象表面同一位置发射爬波并接收其回波,形成图像;

S24、将S21和S22的图像组合形成该位置的横向检测图像;

S25、前往下一个位置,并返回S21重复检测过程;

S26、完成检测后,将所有横向检测图像按位置关系叠加形成三维模型。

3.根据权利要求1所述的一种基于联合法的设备缺陷检测方法,其特征在于,所述S3中的检测步骤包括:

S31、在某一位置以一定角度向待检测对象内发射超声波;

S32、接收检测对象内反射回来的超声波和衍射回来的超声波,合成图像;

S33、在检测对象表面同一位置发射爬波并接收其回波,形成图像;

S34、将S31和S32的图像组合形成该位置的纵向检测图像;

S35、前往下一个位置,并返回S21重复检测过程;

S36、完成检测后,将所有纵向检测图像按位置关系叠加形成三维模型。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种基于联合法的设备缺陷检测方法,其特征在于,所述S4中生成的最终的缺陷检测图像是三维模型图像,所述三维模型图像中反映有缺陷类型、缺陷尺寸和缺陷在检测对象内的位置。

5.一种根据权利要求4所述的基于联合法的设备缺陷检测装置,其特征在于,包括:

移动检测模块,所述移动检测模块包括若干对收发单元和若干爬波单元,用于收发超声波;

处理模块,所述处理模块接收来自移动检测模块的超声波数据,经过计算分析形成缺陷检测图像。

6.根据权利要求5所述的一种基于联合法的设备缺陷检测装置,其特征在于,所述移动检测模块中,每一对收发单元和一个爬波单元为一组检测单元,用于进行联合法的缺陷检测。

7.根据权利要求5或6所述的一种基于联合法的设备缺陷检测装置,其特征在于,所述爬波单元和所述收发单元的结构相同,所述收发单元向检测对象内发射与检测对象表面的法线呈25度角到90度角之间的超声波,并接收反射波和衍射波;所述爬波单元向检测对象表面发射爬波并检测反射波。

8.根据权利要求7所述的一种基于联合法的设备缺陷检测装置,其特征在于,所述收发单元包括楔块,所述楔块上设置有吸声槽,所述楔块上设置有瓦形曲面,所述瓦形曲面上设置有形状相吻合的晶片,所述晶片的凹面和凸面上分别连接有一根金属引线用于数据传输。

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