[发明专利]表征涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征方法和装置

权利要求书

1.一种表征涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征的方法，其特征在于，包括：

获得至少三组涂层的太赫兹时域光谱信号；

根据所述太赫兹时域光谱信号进行单峰高斯拟合计算评估表征量，包括：经过第一回波、第二回波单峰高斯拟合后，获得第一回波的第一峰高A1和第一半高宽FWHM1，获得第二回波的第二峰高A2和第二半高宽FWHM2；包括计算第一峰高A1与第二峰高A2的峰高差，ΔH＝A1-A2；计算摒除厚度影响因素的峰高差值δ_h，δ_h＝(A1-A2)/d，d为样品的实际厚度参量值；计算第一半高宽FWHM1和第二半高宽FWHM2的差值，ΔFWHM＝FWHM2-FWHM1；计算摒除厚度影响因素的半高宽差值δ_F，δ_F＝(FWHM2-FWHM1)/d，d为样品的实际厚度参量值；获得评估表征量δ_r，δ_r＝δ_h*δ_F；

将所述评估表征量与测得的涂层微结构特征进行线性拟合，获得所述涂层微结构特征与所述评估表征量的关联线性关系；所述涂层微结构特征由定量金相法测得，所述涂层微结构特征包括陶瓷涂层孔隙率和/或未熔粒子含量。

2.根据权利要求1所述的表征涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征的方法，其特征在于：所述热障涂层是陶瓷涂层，所述陶瓷涂层是8YSZ型热障涂层，陶瓷涂层底部具有基体和至少一层金属粘结层。

3.根据权利要求1或2所述的表征涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征的方法，其特征在于：对于不同批次工件或试片表面不同位置的涂层进行测量，获得的太赫兹反射信号和其线性规律进行对比反推，表征评价不同批次涂层的微结构特征，进而反馈涂层的质量和性能特征。

4.一种表征涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征的表征装置，其特征在于，包括：

第一获得模块，用于获得至少三组涂层的太赫兹时域光谱信号；

第一计算模块，用于根据所述太赫兹时域光谱信号计算评估表征量，包括：经过第一回波、第二回波单峰高斯拟合后，获得第一回波的第一峰高A1和第一半高宽FWHM1，获得第二回波的第二峰高A2和第二半高宽FWHM2；包括计算第一峰高A1与第二峰高A2的峰高差，ΔH＝A1-A2；计算摒除厚度影响因素的峰高差值δ_h，δ_h＝(A1-A2)/d，d为样品的实际厚度参量值；计算第一半高宽FWHM1和第二半高宽FWHM2的差值，ΔFWHM＝FWHM2-FWHM1；计算摒除厚度影响因素的半高宽差值δ_F，δ_F＝(FWHM2-FWHM1)/d，d为样品的实际厚度参量值；获得评估表征量δ_r，δ_r＝δ_h*δ_F；

第二获得模块，用于将所述评估表征量与测得的涂层微结构特征进行线性拟合，获得所述涂层微结构特征与所述评估表征量的关联线性关系；所述涂层微结构特征由定量金相法测得，所述涂层微结构特征包括陶瓷涂层孔隙率和/或未熔粒子含量。

5.一种表征涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征方法的应用装置，其特征在于，包括：

第三获得模块，用于获得涂层的太赫兹时域光谱信号；

第二计算模块，用于根据所述太赫兹时域光谱信号计算评估表征量；

转换模块，用于利用所述评估表征量和权利要求4的表征装置所得的所述关联线性关系得到涡轮叶片热障涂层陶瓷层微结构特征。