[发明专利]一种适用于荧光分光光度计的嵌入式组合激发光源

说明书

本发明涉及一种适用于荧光分光光度计的嵌入式组合激发光源，包括热光源光路模块、冷光源光路模块、冷/热光源电路切换模块，所述热光源光路模块包括热光源、第一透镜、EX分光器以及第二透镜。所述冷光源光路模块包括冷光源组件及对应的第三透镜，所述冷/热光源电路切换模块分别与热光源及冷光源相连接以实现冷/热光源的切换。本发明在荧光分光光度计上同时配备了热光源和冷光源两种不同发光机理的光源，当遇到易受照光分解或热波动的被测样品时，可选择冷光源；当遇到采用冷光源而无法提供测试所需的EX波长时，可选择热光源，进而从该光源的连续波长中得到所需的EX波长。由此扩大了荧光分光光度计的测试范围，节省了测试成本。

技术领域

本发明涉及一种适用于荧光分光光度计的嵌入式组合激发光源，属于荧光分析检测技术领域。

背景技术

荧光的发生是由于具有荧光特性的物质在吸收激发光之后发射出波长较激发光长的光线。参考图1，当光源辐射出的光束经EX分光器后形成单色光照射到样品池上，样品中的该荧光物质吸收激发光后发生能量跃迁而发射出荧光。荧光由大孔径非球面镜的聚光及光栅的分光色散后，照射于光电倍增管上，光电倍增管把光信号转换成电信号，电信号经放大送至计算机进行处理。然后再以数字显示或图谱打印的方式提供给用户。

荧光信号发生的源头来自荧光仪的光源。荧光仪器光源称作荧光激发光源，简称EX激发光源。按照荧光产生机理只有当合适的EX波长光照射在有荧光特性被受激发光的物质材料上，则该物质才能发射出荧光(EM)光谱。荧光分光光度计的光源主要有热光源与冷光源二大类型。其中热光源即工作发光时有极高的温度与热量会向四周散发。热光源有满足荧光测试分析的EX波长的光能量连续分布的优点，Ex波长在200nm～900nm，但是由于其热发光形式，其高温度大热量的扩散也带来负面影响，特别是当测试光束聚焦在被测样品上时造成了样品的温升，从而影响样品EM光谱的稳定性。冷光源是一种芯片级(例如通常称之为LED)器件的发光器件，其耗电功率低，温升小热量低。采用冷光源作为荧光分光光度计的EX激发光源优势在于其冷光源特性及该器件的光学机械结构小型化特点，可使仪器进行荧光测试过程避免或减少样品的光分解或温升热波动的影响，使荧光分析测试具有相对稳定性。但是冷光源的EX波长是一种单列(不连续分布)波长光(即一般EX波长为光谱带宽为十至几十纳米左右)，因此冷光源没有热光源那种具有连续光谱能量的优点，故冷光源特别适用于荧光分析实验对象明确或者荧光实验方式固定的场合。针对不同的荧光分析试验采用不同光源仪器选择是当前荧光检测的技术现状。

由于热光源和冷光源具有二种不同发光机理，它们的光源器件结构不同，要满足它们能够正常工作状态需要完全不同的物理条件，因此目前的荧光仪器的制作分为具备热光源或冷光源的二种类型。由其特性而局限了荧光计使用的适应性。使用热光源的荧光仪在测试分析容易光分解或热波动样品，时有测试困扰；选择冷光源荧光仪的用户在开拓荧光测试实验时，若需扩展EX波长，因冷光源无法提供其他激发波长也会带来实验困难。另外各类器件自身的结构特点，制作生产工艺也不相同。因此现有荧光分光光度计是分别采用冷/热光源制作的技术现状。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种适用于荧光分光光度计的嵌入式组合激发光源，在荧光分光光度计上同时配备冷、热两种类型的光源。

为了解决上述问题，本发明采用的技术方案如下：

一种适用于荧光分光光度计的嵌入式组合激发光源，包括位于热光源灯室内的热光源光路模块、嵌入冷光源灯室的冷光源光路模块、冷/热光源电路切换模块和位于样品室内的样品池，所述热光源光路模块与冷光源光路模块设置在样品室的两侧，

所述热光源光路模块包括热光源、置于热光源前方的第一透镜、置于第一透镜前方的EX分光器以及位于EX分光器前方的第二透镜，当热光源打开时，所述热光源射出的光束经第一透镜射入EX分光器，经EX分光器射出的单色光经过第二透镜成像于样品池的中心位置。