[发明专利]JTAG转接电路板

权利要求书

1.一种JTAG转接电路板，其特征在于，包含：

C类型通用序列汇流排(Universal Serial Bus，USB Type-C)插槽包含有上排脚位组以及下排脚位组，所述上排脚位组中具有上排测试资料输入(Test Data In，TDI)脚位、上排测试资料输出(Test Data Out，TDO)脚位、上排测试时钟(Test Clock，TCK)脚位、上排测试模式选择(Test Mode Select，TMS)脚位以及多个上排接地(Ground，GND)脚位，所述下排脚位组中具有下排测试资料输入脚位、下排测试资料输出脚位、下排测试时钟脚位、下排测试模式选择脚位以及多个下排接地脚位；及

联合测试工作群组(Joint Test Action Group，JTAG)插槽，所述联合测试工作群组插槽具有左右两侧的卡扣固定部件、防呆空槽以及十个脚位，所述脚位呈现上下两排且每一排具有五个脚位，所述脚位中的测试时钟脚位、测试模式选择脚位、测试资料输入脚位、测试资料输出脚位以及多个接地脚位为固定的脚位位置；

其中，所述测试时钟脚位分别与所述上排测试时钟脚位以及所述下排测试时钟脚位形成电性连接，所述测试模式选择脚位分别与所述上排测试模式选择脚位以及所述下排测试模式选择脚位形成电性连接，所述测试资料输入脚位分别与所述上排测试资料输入脚位以及所述下排测试资料输入脚位形成电性连接，以及所述测试资料输出脚位分别与所述上排测试资料输出脚位以及所述下排测试资料输出脚位形成电性连接，所述接地脚位分别与所述上排接地脚位以及所述下排接地脚位形成电性连接。

2.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述上排脚位组具有十二个脚位，所述上排脚位组的脚位顺序为由右至左配置，所述上排测试资料输入脚位、所述上排测试资料输出脚位、所述上排测试时钟脚位、所述上排测试模式选择脚位分别为所述上排脚位组的第六脚位、第七脚位、第二脚位以及第十一脚位，所述上排脚位组其余的脚位均为上排接地脚位。

3.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述下排脚位组具有十二个脚位，所述下排脚位组的脚位顺序为由左至右配置，所述下排测试资料输入脚位、所述下排测试资料输出脚位、所述下排测试时钟脚位、所述下排测试模式选择脚位分别为所述下排脚位组的第六脚位、第七脚位、第二脚位以及第十一脚位，所述下排脚位组其余的脚位均为下排接地脚位。

4.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述联合测试工作群组插槽中上排的五个脚位均为接地脚位，所述联合测试工作群组插槽中下排的五个脚位由右至左分别为所述测试时钟脚位、所述测试模式选择脚位、所述测试资料输入脚位、所述测试资料输出脚位以及空脚位。

5.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述JTAG转接电路板进一步具有一组左右相对位置的一组定位凹槽，所述定位凹槽提供所述JTAG转接电路板与检测机台的检测平台的固定定位与防呆。

6.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述联合测试工作群组插槽是以聚合物材质所制成，且所述卡扣固定部件呈现几何形状。

7.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述C类型通用序列汇流排插槽提供与检测双列直插式记忆体模组(Dual In-line Memory Module，DIMM)插槽治具电性连接的用途。

8.根据权利要求1所述的JTAG转接电路板，其特征在于，所述联合测试工作群组插槽提供与测试存取控制器的测试存取埠(Test Access Port，TAP)电性连接的用途。