[发明专利]一种PCIE信号测试装置、方法及其存储介质

说明书

本发明涉及一种PCIE信号测试装置、方法及其存储介质，包括示波器、转接器和测试治具，测试治具的输入端与待测设备的插槽相连接，测试治具的输出端与转接器的输入端相连接，转接器的输出端与示波器相连接，转接器还与操作软件通信连接，转接器的输出端包括多个端口，转接器输出端上的每个端口通过测试治具与待测设备上多个测试线路相连接，操作软件可选择的控制转接器输出端上多个端口的通断。本发明的PCIE信号测试装置、方法及其存储介质，转接器连接在示波器与测试夹具之间，可以同时满足X16、X8和X4三种带宽的测试，有效的提高了测试治具的通用性和测试效率。

技术领域

本发明涉及计算机测试技术领域，尤其是指一种PCIE信号测试装置、方法及其存储介质。

背景技术

标准PCIE设备的应用十分普及，如SAS卡、RAID卡、网卡、显卡等设备。随着PCIE技术的不断发展，PCIE传输速率越来越高，当前主流的PCIE3.0传输速率为8Gbps，下一代PCIE4.0的传输速率将达到16Gbps。传输速率越高，对信号完整性设计的挑战越大，PCIE的信号完整性测试必不可少。

随着现代处理器技术的发展，PCIE按带宽一般是分为三种，即X16、X8和X4，在对标准PCIE设备进行测试的时候，一般是将测试使用的治具与待测器件连接起来，然后将治具上的信号传输到示波器上。现有技术的不同带宽的PCIE信号测试需要不同的治具，因此在测试的时候需要不断的对治具进行更换，这会造成治具和线缆的磨损而导致连接不可靠，在连接不牢靠的情况下将会导致测试数据不准确。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种PCIE信号测试装置、方法及其存储介质，可以提高测试效率，可以提高测试质量。

为实现上述目的，本申请提出第一技术方案：

一种PCIE信号测试装置，包括示波器、转接器和测试治具，所述测试治具的输入端与待测设备的插槽相连接，所述测试治具的输出端与所述转接器的输入端相连接，所述转接器的输出端与示波器相连接，所述转接器还与操作软件通信连接，所述转接器的输出端包括多个端口，所述转接器输出端上的每个端口通过所述测试治具与待测设备上多个测试线路相连接，所述操作软件可选择的控制所述转接器输出端上多个端口的信号通断。

在本发明的一个实施例中，所述测试治具的输出端包括多个端口，所述转接器的输入端上也设置有多个端口，所述测试治具上的多个端口与所述转接器上的多个端口一一对应连接。

在本发明的一个实施例中，所述转接器输出端上的每个输出端口与所述转接器输入端的其中多个端口相连接。

在本发明的一个实施例中，所述示波器上设置有多个端口，所述转接器输出端上的每个输出端口还与所述示波器上每个端口一一对应连接。

在本发明的一个实施例中，所述操作软件具体包括：

测试模式选择模块，用于选择X16、X8或者X4测试模式；

线路选择模块，用于选择转接器输入端的线路；

工作模式选择模块，用于选择手动测试模式或者自动测试模式；

速率切换模块，用于选择测试速率；

测试启动模块，用于启动信号测试。

在本发明的一个实施例中，所述操作软件还包括：

进度显示模块，用于显示信号测试的进度；

日志保存模块，用于保存信号测试的结果状态；

文件存储模块，用于存储信号测试的分析报告；

波形保存模块，用于存储信号测试的波形。

为实现上述目的，本申请还提出第二技术方案：