[发明专利]激光驱动开路检测电路在审
申请号: | 202111432134.7 | 申请日: | 2021-11-29 |
公开(公告)号: | CN114460493A | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 郑永华;李发明;林永辉;林文礼;杨龙东;陈哲;葛军华 | 申请(专利权)人: | 厦门优迅高速芯片有限公司 |
主分类号: | G01R31/54 | 分类号: | G01R31/54 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 李雁翔;吴晓梅 |
地址: | 361000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 驱动 开路 检测 电路 | ||
本发明公开了一种激光驱动开路检测电路,包括激光驱动电路、激光器LD、电阻RT、电阻Rs、第三恒流源IT和比较器COMPARATOR,电阻RT与该第三恒流源IT串接后两端分别连接在电阻Rterm的正端与地之间,且电阻RT的一端与电阻Rterm的正端相接,另一端与第三恒流源IT和比较器COMPARATOR的一输入端相接,电阻Rs的一端电阻Rterm的负端相接,另一端与比较器COMPARATOR的另一输入端相接,电阻RT的另一端电压为电压Vref1,该电阻Rs的另一端电压为电压Vout1,通过比较电压Vref1和电压Vout1的大小,判断该激光驱动电路与激光器LD之间是否开路。它具有如下优点:实现激光驱动开路检测,容易实现,不需要断电或者借助外界检测工具,不影响激光驱动电路和激光器的正常工作。
技术领域
本发明涉及检测电路,尤其涉及一种激光驱动开路检测电路。
背景技术
在激光驱动模块的生产环节(尤其在激光器LD与驱动芯片的封装打线过程中)或者是在激光驱动模块的使用阶段(由于外力因素或其他)都会出现驱动芯片与激光器LD之间打线断开的现象,如此导致驱动电流无法正常流入激光器LD,激光器LD不发光。而对驱动模块进行断电并用第三方检测工具虽能检测出驱动芯片与激光器LD之间打线开路问题,但这种方法显然比较耗费时间与资源。为了减少打线开路的检测时间与成本,需要在驱动芯片内部设计一个能自动检测出激光器LD与驱动芯片封装打线开路的检测电路。
如图1是已有一种激光器LD驱动开路检测方案的示意图,在驱动电路输出端与激光器LD之间串接一电阻RFAULT,通过检测电阻RFAULT上的电压降(实际检测流过电阻RFAULT的电流,即流入激光器LD的电流),经D I FF_AMP放大器电路放大后与一阈值电压VTH进行比较,从而判断驱动芯片与激光器LD之间连接是否存在开路。
已有技术方案的缺点:
1、输出端与激光器LD串联一电阻会减小激光器LD的调制电流。
2、输出端与激光器LD串联一电阻会消耗一定电压余度,同时产生不必要的能量消耗。
3、输出端与激光器LD串联一电阻会影响驱动电流的性能(上升下降时间、幅度等)。
4、DIFF_AMP放大器输入端存在寄生电容也会影响驱动电路的带宽,进而影响驱动电流的上升下降时间等。
发明内容
本发明提供了一种激光驱动开路检测电路,其克服了背景技术中所述的现有技术的不足。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
激光驱动开路检测电路,它包括激光驱动电路、激光器LD,该激光驱动电路包括一干路和由该干路分支且相并联连接的两支路,两支路的一公共端与干路相接,另一公共端接地,该干路上串接第一恒流源Ibiasp和电阻Rterm,其一支路串接第二恒流源Imod,另一支路上串接该激光器LD,通过第一恒流源Ibiasp和第二恒流源Imod驱动该激光器LD工作;
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