[发明专利]一种用于垂直剖面多样品的热史模拟方法及其相关装置

说明书

本申请公开了一种用于垂直剖面多样品的热史模拟方法及其相关装置，通过假设的方式获取待模拟地质的若干垂直剖面热史曲线组，每组垂直剖面热史曲线组包括待模拟地质在垂直剖面上不同高度处的样品的热史曲线；基于各垂直剖面热史曲线组对各样品进行多种低温年代学方法模拟获取模拟结果，进而计算各垂直剖面热史曲线组在各低温年代学已知实验模拟结果下的拟合优度，并将拟合优度的最小值作为各垂直剖面热史曲线组的综合拟合优度；通过综合拟合优度对垂直剖面热史曲线组进行筛选，进而获取待模拟地质的最终热史曲线模拟结果，解决了在应用多种年代学数据联合反演热史时，评价标准难以统一，无法获取高精度的热史模拟结果的技术问题。

技术领域

本申请涉及地质技术领域，尤其涉及一种用于垂直剖面多样品的热史模拟方法及其相关装置。

背景技术

近年来，低温年代学方法在能源勘探、地质研究等方面得到了广泛的应用。目前通过多种年代学数据联合反演热史的方法，已成为提高热史模拟精度的主要途径。但在多方法联合应用时，评价标准难以统一，如何获取高精度的热史模拟结果是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种用于垂直剖面多样品的热史模拟方法及其相关装置，用于解决在应用多种年代学数据联合反演热史时，评价标准难以统一，无法获取高精度的热史模拟结果的技术问题。

有鉴于此，本申请第一方面提供了一种用于垂直剖面多样品的热史模拟方法，包括：

通过假设的方式获取待模拟地质的若干垂直剖面热史曲线组，其中，每组所述垂直剖面热史曲线组包括所述待模拟地质在垂直剖面上不同高度处的样品的热史曲线；

基于各所述垂直剖面热史曲线组对各所述样品进行多种低温年代学方法模拟，得到各所述垂直剖面热史曲线组对应的多种低温年代学模拟结果；

根据各所述垂直剖面热史曲线组对应的多种低温年代学模拟结果计算各所述垂直剖面热史曲线组在各低温年代学模拟结果下的拟合优度，并将各所述垂直剖面热史曲线组在各低温年代学模拟结果下的拟合优度的最小值作为各所述垂直剖面热史曲线组的综合拟合优度；

通过所述综合拟合优度对所述垂直剖面热史曲线组进行筛选，得到筛选后的若干所述垂直剖面热史曲线组；

基于筛选后的若干所述垂直剖面热史曲线组获取所述待模拟地质的最终热史曲线模拟结果。

可选的，所述通过假设的方式获取待模拟地质的若干垂直剖面热史曲线组，包括：

获取到待模拟地质在垂直剖面上不同高度的若干个样品后，从所有所述样品中选择一个样品作为目标样品，并在预置时间范围和预置温度范围内假设所述目标样品的N条热史曲线；

根据各非目标样品与所述目标样品的高度差计算各所述非目标样品与所述目标样品的温度差；

在所述目标样品的每一条热史曲线的基础上叠加各所述非目标样品与所述目标样品的温度差获取各所述非目标样品的热史曲线，从而得到N组垂直剖面热史曲线组。

可选的，多种所述低温年代学方法为裂变径迹年龄方法、裂变径迹长度方法、镜质体反射率方法、矿物U-Th/He年龄方法、Ar-Ar定年方法、基岩石英光释光方法中的多种方法组合。

可选的，所述通过所述综合拟合优度对所述垂直剖面热史曲线组进行筛选，得到筛选后的若干所述垂直剖面热史曲线组，包括：

比较各所述垂直剖面热史曲线组的综合拟合优度与预设拟合优度阈值的大小，保留所述综合拟合优度大于或等于所述预设拟合优度阈值的垂直剖面热史曲线组，去除所述综合拟合优度小于所述预设拟合优度阈值的垂直剖面热史曲线组。

可选的，所述基于筛选后的若干所述垂直剖面热史曲线组获取所述待模拟地质的最终热史曲线模拟结果，包括：