[发明专利]一种集成LED的光增强碳化硅功率器件在审

专利信息
申请号: 202111437948.X 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114242709A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 张峰;张国良;邱宇峰;张荣 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L29/06;H01L29/78;H01L33/00
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 马应森
地址: 361005 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成 led 增强 碳化硅 功率 器件
【权利要求书】:

1.一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于由多个元胞并联而成,每个元胞结构包括:P型掺杂集电区、N型掺杂场终止层、N型掺杂漂移区、P型掺杂的阱区、N型掺杂的源区、P型掺杂的基区、氧化层、栅极电极、集成的LED、发射极电极和集电极;N型掺杂场终止层位于P型掺杂集电区上方,N型掺杂漂移区位于N型掺杂场终止层上方;P型掺杂的阱区位于N型漂移区的上方;N型掺杂的源区和P型掺杂的基区位于P型掺杂的阱区的内部;氧化层位于N型掺杂漂移区的上方;栅极电极位于氧化层上方;集成的LED位于JFET区域的上方且在栅极电极的内部;发射极电极位于N型掺杂的源区和P型掺杂的基区的上方;集电极位于P型掺杂集电区的下方。

2.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于所述P型掺杂集电区掺杂浓度为1×1018cm-3~5×1020cm-3,厚度为0.1~20μm,N型掺杂场终止层的掺杂浓度为1×1014cm-3~5×1020cm-3,厚度为0.1~10μm。

3.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于所述N型掺杂漂移区的掺杂浓度为1×1013cm-3~1×1018cm-3,厚度依照所需要实现的阻断电压设定为5~200μm。

4.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于所述P型掺杂的阱区的掺杂浓度为1×1015cm-3~5×1019cm-3

5.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于所述N型掺杂的源区的深度为0.2~0.8μm,N型掺杂的源区的掺杂浓度在1×1017cm-3以上。

6.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于所述P型掺杂的基区的深度为0.2~1.5μm,P型掺杂的基区的掺杂浓度在1×1017cm-3以上。

7.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于每个元胞所集成的LED的个数为1~5000个。

8.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于每个元胞所集成的LED所发射的光线波段为紫外波段。

9.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于每个元胞所集成的LED的宽度为0.5~20μm,长度为0.5~20μm。

10.如权利要求1所述一种集成LED的光增强碳化硅功率器件,其特征在于每个元胞所集成的LED为圆形、方形、三角形。

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