[发明专利]浮动密封结构中密封件的变形量获取方法

权利要求书

1.一种浮动密封结构中密封件的变形量获取方法，其特征在于，包括：

以所述密封件(3)在浮封座(1)和浮封环(2)形成的密封腔内与所述浮封座(1)和所述浮封环(2)接触但未发生形变的位置为第一配合位置，以所述密封件(3)在所述浮封座(1)和所述浮封环(2)形成的密封腔内装配到位的位置为第二配合位置；和

根据所述第一配合位置两个所述浮封座(1)的轴向间隙A₀和所述第二配合位置两个所述浮封座(1)的轴向间隙A_f，获取在所述第二配合位置所述密封件(3)相对于所述第一配合位置沿压缩应变最大的方向的变形量Δd。

2.根据权利要求1所述的密封件的变形量获取方法，其特征在于，根据所述第一配合位置两个所述浮封座(1)的轴向间隙A₀和所述第二配合位置两个所述浮封座(1)的轴向间隙A_f，获取在所述第二配合位置所述密封件(3)相对于所述第一配合位置沿压缩应变最大的方向的变形量Δd包括：

获取所述轴向间隙A₀以及所述第一配合位置位于所述浮封座(1)的锥面和所述浮封环(2)的锥面中的一个上的预设点到所述浮封座(1)的锥面和所述浮封环(2)的锥面中的另一个的距离h₀；

根据所述轴向间隙A₀以及所述距离h₀，获取在所述第一配合位置和所述第二配合位置之间的任意配合位置两个所述浮封座(1)的轴向间隙A与位于所述浮封座(1)的锥面和所述浮封环(2)的锥面中的一个上的所述预设点到所述浮封座(1)的锥面和所述浮封环(2)的锥面中的另一个的距离h的对应关系；

获取所述轴向间隙A_f；

根据所述轴向间隙A_f以及所述轴向间隙A与所述距离h的对应关系，获取所述第二配合位置位于所述浮封座(1)的锥面和所述浮封环(2)的锥面中的一个上的所述预设点到所述浮封座(1)的锥面和所述浮封环(2)的锥面中的另一个的距离h_f；和

根据所述距离h_f，获取所述变形量Δd。

3.根据权利要求2所述的密封件的变形量获取方法，其特征在于，所述轴向间隙A与所述距离h的对应关系表示为：

其中，若所述浮封座(1)的锥面与所述浮封环(2)的锥面平行，θ＝α＝β，若所述浮封座(1)的锥面与所述浮封环(2)的锥面不平行，θ＝max(α，β)，α表示所述浮封环(2)的锥面的锥角，β表示所述浮封座(1)的锥面的锥角。

4.根据权利要求2或3所述的密封件的变形量获取方法，其特征在于，所述密封件为O形密封圈，所述变形量Δd表示为：

Δd＝d₀-h_f

其中，d₀表示所述O形密封圈的O形截面的直径。