[发明专利]一种ATE设备DC校准有效性的检测方法

权利要求书

1.一种ATE设备DC校准有效性的检测装置，用于检测业务板卡各数字通道的DC校准有效性测试；其特征在于，包括：

多块数字板卡，每块数字板卡包括M个通道(CH1、CH2…CHM)和一个板卡逻辑处理单元；其中，所述数字板卡已进行了DC校准，所述通道(CH1、CH2…CHM)初步具备对芯片管脚驱动电流与电压的能力和与之对应的精确测量能力，所述M为偶数；

环回互联模块，其包括线缆和与所述数字板卡对接的连接器，用于将每一个所述数字板卡上的每两个相邻通道为一组进行环回互联以形成一条检测回路，其中，所述数字板卡的奇数通道包括第一接口，所述数字板卡的偶数通道包括第二接口，所述第一接口和第二接口通过线缆和所述连接器连接在一起，以形成M/2条所述检测回路；

其中，所述板卡逻辑处理单元包括正向测试单元、反向测试单元和判断单元，所述正向测试单元对照各具有所述第一接口的奇数通道支持的指标参数范围，选取若干指标参数典型值，对所述第一接口的奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历，所述反向测试单元对照各具有所述第二接口的偶数通道支持的指标参数范围，选取若干指标参数典型值，对所述第二接口的偶数通道的校准有效性遍历，所述判断单元根据校准有效性检测标准和所有校准有效性遍历的结果，判断全部所述通道的DC校准情况。

2.根据权利要求1所述的ATE设备DC校准有效性的检测装置，其特征在于，所述第一接口的奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历为依次驱动每一个所述第一接口的奇数通道的电压，获得相应所述第二接口的偶数通道的第一测量结果值；所述第二接口的偶数通道实现校准有效性的遍历为依次驱动每一个所述第二接口的偶数通道的电压，获得相应所述第一接口的奇数通道的第二测量结果值；所述通道的DC校准情况判断为将所有第一测量结果值和第二测量结果值，与校准有效性检测标准进行比较，获取全部通道的DC校准情况，其中，所述校准有效性检测标准为测量结果值是否落入一个预定的电压范围值。

3.根据权利要求1所述的ATE设备DC校准有效性的检测装置，其特征在于，所述第一接口的奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历为依次驱动每一个所述第一接口的奇数通道的电流，获得相应所述第二接口的偶数通道的第一测量结果值；所述第二接口的偶数通道实现校准有效性的遍历为依次驱动每一个所述第二接口的偶数通道的电流，获得相应所述第一接口的奇数通道的第二测量结果值；所述通道的DC校准情况判断为将所有第一测量结果值和第二测量结果值，与校准有效性检测标准进行比较，获取全部通道的DC校准情况，其中，所述校准有效性检测标准为测量结果值是否落入一个预定电流的范围值。

4.根据权利要求1所述的ATE设备DC校准有效性的检测装置，其特征在于，每块所述数字板卡的通道的数量M大于100。

5.一种ATE设备DC校准有效性的检测方法，其特征在于，包括测试步骤S1和判断步骤S2：

所述测试步骤S1包括：

步骤S11：提供已进行了DC校准后的多块数字板卡，将所述多块数字板卡连接成权利要求1所述的ATE设备DC校准有效性的检测装置；

步骤S12：对照各具有所述第一接口的奇数通道支持的指标参数范围，选取若干指标参数典型值，对所述第一接口的奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历；

步骤S13：对照各具有所述第二接口的偶数通道支持的指标参数范围，选取若干指标参数典型值，对所述第二接口的偶数通道的校准有效性遍历；

所述判断步骤S2包括：根据所有校准有效性遍历的结果，判断全部所述通道的DC校准情况。