[发明专利]一种用激光观测微孔缺陷的方法在审
| 申请号： | 202111443084.2 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114061491A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 黄振永;薛竣文;唐佳林 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学珠海学院 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 赵丹 |
| 地址： | 519088 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 激光 观测 微孔 缺陷 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用激光观测微孔缺陷的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、通过光纤激光器输出单色光，照射微型孔管；
S2、由数码摄像头观测到菲涅耳衍射图形；
S3、将衍射图形传送到电脑，用显示器分析衍射图形并查看微型孔管的圆度与缺陷情况。
2.根据权利要求1所述的一种用激光观测微孔缺陷的方法，其特征在于，所述S1中的光纤激光器是由单根光纤输出单色光，光纤插入微型孔管的一端，在另一端发生菲涅耳衍射。
3.根据权利要求2所述的一种用激光观测微孔缺陷的方法，其特征在于，所述单根光纤输出的单色光为红色光或绿色光。
4.根据权利要求1所述的一种用激光观测微孔缺陷的方法，其特征在于，所述S2中，通过调节光屏的位置，直到数码摄像头观察到清晰的衍射图形。
5.根据权利要求1所述的一种用激光观测微孔缺陷的方法，其特征在于，所述S3具体为用显示器观察和测量衍射图形的长轴与短轴的比值来判断圆孔的圆度情况，用亮条纹的波动大小判断凸点或凹坑的缺陷情况。
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