[发明专利]一种基于天线阵面标校的测高精度提高技术在审
申请号: | 202111443200.0 | 申请日: | 2021-11-30 |
公开(公告)号: | CN114167369A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 周健洋;官林海;陈帅;乐意;秦志乐 | 申请(专利权)人: | 南京国睿防务系统有限公司 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 刘丰;高娇阳 |
地址: | 210019 江苏省南京市建邺区江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 天线阵 面标校 测高 精度 提高 技术 | ||
1.一种基于天线阵面标校的测高精度提高技术,其特征在于:采用经纬仪、静态水平仪和动态水平仪;经纬仪标校真实水平度,通过使用经纬仪标校出的真实水平度,将结构误差修正在静态水平仪的数据中,动态水平仪安装在阵面上,采用经纬仪标校动态水平仪的系统误差。
2.根据权利要求1所述的基于天线阵面标校的测高精度提高技术,其特征在于:静态水平仪误差标定方法包括:静态水平仪安装在载车上,选取若干个典型的标校位置,获得相应位置上的静态水平仪测量值与标校真值,用标校真值来修正测量值后,将静态水平仪的系统误差修正,其中系统误差包含了结构误差。
3.根据权利要求2所述的基于天线阵面标校的测高精度提高技术,其特征在于:静态水平仪标校包括如下步骤:
S11,天线旋转到维修位,在此状态下用经纬仪测量天线阵面的纵摇和横摇,标示为-Dx和-Dy;
S12,天线旋转到标校位,在此状态下用经纬仪测量天线阵面的纵摇和横摇,标示为Dx和Dy;
S13,天线旋转到运输位,在此状态下用经纬仪测量天线阵面的纵摇和横摇,标示为Dx和-Dy;
S14,天线旋转到运输反向位置,在此状态下用经纬仪测量天线阵面的纵摇和横摇,标示为-Dx和Dy;
S15,将四组数据取均值;
S16,将静态水平仪现有数据与均值求差值,得到水平仪的修正数据;
S17,将修正数据填入主控模块后,重新调平。
4.根据权利要求3所述的基于天线阵面标校的测高精度提高技术,其特征在于:动态水平仪误差标定方法包括:动态水平仪安装在阵面上,动态水平仪的校准在完成静态水平仪校准后完成,选取若干个典型的标校位置,获得相应位置上的动态水平仪测量值与标校真值,用标校真值来修正测量值后,将动态水平仪的系统误差修正。
5.根据权利要求4所述的基于天线阵面标校的测高精度提高技术,其特征在于:动态水平仪标校包括:
S21,天线旋转到步骤S11-S14中的维修位、标校位、运输位、运输反向位,在相应状态下分别用经纬仪测量阵面的纵摇和横摇,标示为Dx和Dy;
S22,在步骤S21的四个角度时,分别在终端界面上系统状态表上读取动态水平仪数据,标示为DX和DY;
S23,对四组测量数据取均值,并与动态水平仪数据求差值,得到修正误差;
S24,记录修正值,补偿至后端处理文件中。
6.根据权利要求3所述的基于天线阵面标校的测高精度提高技术,其特征在于:在步骤S17后,按照S11-S17的步骤复测天线水平度数据,误差小于0.1度为合格。
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